减少半导体制造中的质量缺陷逃逸

在最终的晶圆测试和分类过程中,每个裸片都会分配到特定的废料箱或产品箱。这个过程直接决定了质量和盈利能力。将合格裸片错误地报废会影响利润,而将有缺陷的裸片错误地交付给客户则会对质量和品牌声誉造成负面影响。每个半导体制造厂都必须在其测试和晶圆分类过程中平衡这两个问题,这就需要采取基于数据的质量决策流程:

 

  • 晶圆图。通过热图了解给定晶圆上的故障位置
  • 堆叠晶圆分析。汇总晶圆结果以确定报废裸片的坏点和模式
  • 裸片相关数据。获取每个裸片的关联数据,包括合格/报废结果、参数数据和晶圆/批次识别

NI针对半导体质量防线生命周期解决方案

  • 基于NI OptimalPlus部署的NI生命周期采集、检测和行动解决方案框架可近乎实时地监测和解决良率问题
  • 晶圆数据管道负责采集、转换晶圆测试结果并将其标记为统一的数据格式,以便对晶圆结果进行持续分析和洞察
  • 提供一套先进的晶圆可视化和分析工具,可检测模式和异常,以确保只向客户交付高性能半导体裸片
  • 异常值检测功能具有综合算法库和高级相关性,可进一步对分散的制造厂进行检测,从而更一致地识别不良裸片
  • 根据对质量风险的准确预测采取行动,重新测试或报废裸片,建立真正的质量防线,防止有缺陷的裸片流向客户。

解决方案优势

利用NI生态系统,解决方案

NI提供了各种集成解决方案供您选择,可满足您的特定应用需求。​您可以将系统集成工作完全交给公司内部的集成团队,也可寻求NI以及遍布全球的NI合作伙伴联盟的帮助,获取完整的一站式解决方案。

NI合作伙伴联盟

NI合作伙伴联盟是一个由领域专家、应用专家和整体测试开发专家组成的全球社区,与NI紧密合作,全力满足工程界的需求。NI合作伙伴囊括了解决方案提供商、系统集成商、顾问、产品开发人员以及服务和销售渠道专家,他们在诸多行业和应用领域都有着丰富的经验,值得您信赖。

服务与支持

NI企业解决方案可提供有助于提高产品生命周期性能的架构和应用程序。而NI服务团队则能够提供专门的数据科学、工程和项目管理资源,以指导用户完成完整的数据映射和主要的可交付成果,从而成功部署解决方案。您可与您的NI代表探讨相关服务选项,同时详细了解NI企业解决方案。