什么​是​半导体​测试​系统​(STS)?

STS​是​一​款​直接​可​用于​量产​环境​的​ATE,​适用​于​RF​和​混合​信号​和​MEMS​半导体​器件​生产​测试,​有助​于​缩短​产品​上市​时间,​降低​测试​成本。

更​智能​的​半导体​生产​测试​解决​方案

STS​是​一​款​直接​可​用于​量产​环境​的​ATE,​具有​高​吞吐量、​低成本​等​优势,​适用​于​RF、​混合​信号​和​MEMS​半导体​器件​的​生产​测试。​STS​可​直接​用于​生产​用​test cell,​支持​manipulator、​分​选​机​和​晶圆​探​针​台​以及​标准​弹簧​针​布局,​可​实现​高度​可​移植​的​负载​板​和​测试​程序。 STS​具有​一套​统一​的​软件​工具,​可​帮助​用户​快速、​高效​地​开发、​调​试​和​部署​测试​程序。​除了​该​系统,​NI​还​提供​有​工程​开发​服务、​bring-​up​服务、​培训​和​技术​支持,​确保​您​获得​完整​的​解决​方案。

主要​优势​

  • 全面​的​RF、​数字​和​直流​仪器​产品​组合​—​您​可以​自​定义​新的​STS​配置​并​升级​现有​测试​仪,​以​纳入​您​需要​的​仪器​资源,​同时​保持​测试​程序​和​负载​板​的​可​移植​性。 

  • 统一​的​软件​体验​—​STS​提供​了​标准​的​软件​来​开发、​调​试​和​部署​multisite​测试​程序,​包括​引​脚/​通道​匹配​图、​测试​阈​值​导入/​导出、​binning​和​STDF​报告。

  • 现成​的​测试​代码​—​使用​拖​放​式​软件​模板​来​完成​常见​的​半导体​测试​任务,​比如​连续​性​检查、​泄漏​测试​或​数字​pattern​载入,​或者​RF​波形​生成​或​采集​以​测试​5G NR​等​最新​无线​标准。
  • Test Cell​集成​—​标准​docking​和​连接​设施​可​允许​与​manipulator​以及​器件​测试​分​选​机​无缝​集成​来​进行​封​装​测试,​也​可与​晶圆​探​针​台​集成​进行​晶圆​测试。

  • 系统​校准​—​可​对​系统​级​数字​和​直流​资源​(比如​弹簧​探​头​接口​等)​和​直流​资源​(比如​RF​盲​插​等)​进行​现场​校准,​并​可​选择​使用​矢量​反​嵌​文件​来​校准​DUT。

  • 服务​和​支持​—​工程​服务、​bring-​up​服务、​培训​和​技术​支持​均可​帮助​您​快速​设置​和​启动​系统。

您​对​以下​哪个​解决​方案​感兴趣?

射频​前端​和​收​发仪

无线​芯​片​制造​商​已经​意识​到,​在​评估​测试​解决​方案​时,​上市​时间​压力​和​生产​测试​吞吐量​是​两​个​重要​的​考量​因素。 对于​RF​前端​来说,​包括​功率放大器​(PA)、​低​噪​放大器​(LNA)、​RF​开关​和​集成​式​RF​前端​模​块​(FEM),​STS​在​测试​时间​和​吞吐量​上所​具有​的​优势​远胜​于​市面上​的​其他​ATE​解决​方案。​NI​还​积极​加入​各种​标准​制定​机构​并​参与​到​各种​实验​室​应用​中,​这​使​其​在​5G NR​等​最新​无线​标准​测试​方面​具有​广泛​而​深入​的​经验,​并​能够​开发​出​强大​的​解决​方案。​而且,​NI​还​提供​了​具有​行业​领先​带​宽的​重要​IP​和​高​端​仪器,​可​助​您​加速​生产​测试​的​开发​和​部署​过程。

主要​特性

 

  • 针对​RF​和​毫米波​无线​标准​的​集成​解决​方案
  • 为​复杂​RF​测量​提供​行业​领先​的​1 GHz​分析​带​宽 
  • 支持​无线​标准,​包括​GSM、​TD SCDMA、​WCDMA、​LTE、​LTE-​A、​5G NR​和​802.11a/​b/​g/​n/​ac/​ax
  • 最多​达​48​个​双向​RF​端​口​和​72​个​双向​毫米波​端口
  • 为​前端​模​块​(FEM)​分析​提供​SPI、​MIPI​和​自​定义​数字​通信库
  • 可​选​的​大功率​RF - 最高​可达​+40 dBm
  • 可​选​的​谐​波​测量 - 最高​可达​18 GHz
  • 可​选​的​噪声​系数​测量 - 支持​Y​因子​法​和​冷​源法

"我们​的​一部分​业务​单元​已经​开始​采用​STS,​在​他们​的​极力​推荐​下,​我们​的​RF​业务​部门​也​开始​尝试​使用​该​系统​开发​大规模​MIOM​应用。 当然,​这​一​举措​所​取得​了​令人​满意​的​成效;​对于​生产​部门​来说,​产量​就是​一切。 更高​的​产量​意味​着​我们​能够​更​快速​将​更多​产品​交付​到​客户​手中,​这​也​意味​着​营业​额​的​增加。”

David Reed,​NXP​全球​运营​执行​副总裁

物​联​网​微​控制器​设备

半导体​芯​片​制造​商​已经​意识​到,​物​联​网​(IoT)​的​出现​不仅​大幅​增加​了​物​联​网​微​控制器​半导体​器件​多样​性​和​数量,​而且​还​要求​以​非常​低​的​成本​这些​器件​进行​测试,​而​传统​ATE​解决​方​案​根本​无法​满足​这​一​要求。 对于​采用​蓝牙​LE、​NB-​IoT、​Wi-​Fi​和​ZigBee​等​通信​标准​且​基于​微​控制器​的​物​联​网​设备,​STS​提供​了​灵活​的​生产​测试​平台,​不仅​可以​进行​扩展​来​满足​不断​扩大​的​产量,​也​可​进行​简化​来​满足​日益​紧缩​的​预算。

主要​特性

 

  • 为​复杂​RF​测量​提供​行业​领先​的​1 GHz​分析​带​宽  
  • 支持​蓝牙​LE、​NB-​IoT、​Wi-​Fi​和​ZigBee​等​无线​连接​标准  
  • 可​选​的​音​频​输入​和​输出​仪器​资源 
  • 可​选​的​高​频​信号​生成​和​信号​捕获​仪器​资源




“NI​推出​STS​之​时,​我们​就​知道​那是​我们​的​选择​之一。 尝试​一下,​又有​何​不可​呢? 当​我们​将​STS​与​ATE​结合​时,​发现​这​完全​就是​我们​需要​的​解决​方案。​STS​帮助​我们​我们​每月​节省​了​60,000​美元​的​成本,​并​在​不到​两​年​的​时间​内​收回​全部​的​投资​成本。” 我们​不仅​增加​了​测试​范围,​而且​还​提高​了​产品​质量。 而且,​由于​PXI​平台​的​长​使用​寿命​以及​NI​产品​的​稳定​性,​我们​坚信,​我们​正在​投资​的​平台​将​在​未来​数​十年​内​持续​给予​我们​回报。”

Warren Latter,​高级​测试​工程​师,​安美​森​半导体

混合​信号​和​MEMS​器件

半导体​芯​片​制造​商​知道,​测试​各种​不同​的​混合​信号​设备​中的​典型​器件​和​专用​器件​通常​会​产生​各种​各样​的​测试​要求。​对于​混合​信号​设备,​比如​数据​转换​器、​线性​设备、​通信​接口、​时钟​和​定​时​以及​MEMS​传感器​和​器件,​STS​提供​了​一个​灵活​的​生产​测试​平台,​可​让​用户​经济​高效​地​从​旧式​测试​系统​迁移​过来,​或者​避免​使用​昂贵​的​ATE​平台。

主要​特性

 

  • 用于​混合​信号​和​MEMS​器件​测试​的​常用​仪器​选项,​包括​数字、​四​象限​VI(源​测量​单元),​以及​高​频​信号​生成​和​捕获
  • 交互​式​软件,​有助​于​简化​测试​程序​开发、​加速​测试​系统​bring-​up​并​简化​调​试​流程
  • 丰富​的​测量​库​为​测试​程序​开发​提供​更​高级​的​起点
  • 可​选​的​高​频​信号​生成​和​信号​捕获​仪器​资源
  • 可​选​的​音​频​输入​和​输出​仪器​资源

“最终,​我们​发现​STS​帮助​我们​提高​了​30%​的​速度,​而且​满足​我们​所有​的​需求,​而且​购买​成本​比​租赁​传统​ATE​要​低得​多。”

John Cooke,​产品​测试​经理,​Cirrus Logic

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服务


STS​服务​和​支持

NI​提供​了​专业​的​工程​和​硬件​开发​服务​和​项目,​旨​在​帮助​半导体​测试​客户​满足​紧迫​的​时间​期限,​同时​帮助​他们​最大​程度​提高​效率,​优​化​测试​系统​性能,​并​确保​系统​的​长期​可用性。 每次​部署​STS​时,​NI​都​会​与​您​共同​确定​最能​满足​您​应用​需求​的​服务​级别,​以​确保​您​的​长期​成功。