什么​是​半导体​测试​系统​(STS)?

半导体​测试​系统​(STS)​是​一​款​直接​可​用于​量产​环境​的​ATE,​适用​于​RF​和​混合​信号​半导体​器件​生产​测试,​有助​于​缩短​产品​上市​时间,​降低​测试​成本。

RF​和​混合​信号​半导体​测试​的​智能​解决​方案

STS​针对​吞吐量​进行​了​优​化,​具有​统一​的​软件​架构,​提供​了​直观​的​交互​式​软件、​功能​强大​的​测试​管理​软件,​并​可​通过​拖​放​方式​添加​现成​代码​来​快速​实现​常见​半导体​操作,​从而​加速​开发、​调​试​和​部署​测试​程序​的​过程。 STS​可​直接​用于​test cell,​支持​manipulator、​分​选​机​和​晶圆​探​针​台​以及​标准​弹簧​针​布局,​可​实现​高度​可​移植​的​负载​板​和​测试​程序。 除了​该​系统,​NI​还​提供​有​工程​开发​服务、​bring-​up​服务、​培训​和​技术​支持,​确保​您​获得​完整​的​解决​方案。

主要​优势​

  • 全面​的​RF、​数字​和​直流​仪器​产品​—​您​可以​扩展​或​简化​STS​配置,​以​纳入​RF​和​混合​信号​设备​测试​所需​的​仪器​资源。



  • 统一​的​软件​体验​—​STS​提供​了​标准​的​软件​来​开发、​调​试​和​部署​multisite​测试​程序,​包括​引​脚/​通道​匹配​图、​测试​阈​值​导入/​导出、​数据​分​箱​(bining)​和​STDF​报告。



  • 现成​的​测试​代码​—​您​可以​使用​拖​放​式​软件​模板​来​完成​常见​的​半导体​测试​任务,​比如​RF​波形​生成​和​采集、​连续​性​检查、​泄漏​测试​或​数字​pattern​载入。
  • Test Cell​集成​—​标准​docking​和​连接​设施​可​允许​与​manipulator​以及​器件​分​选​机​无缝​集成​来​进行​封​装​测试,​也​可与​晶圆​探​针​台​集成​进行​晶圆​测试。



  • 系统​校准​—​您​可​使用​弹簧​探​针​接口​或​RF​盲​插接​机​口​来​校准​数字、​直流​和​RF​资源。



  • 服务​和​支持​—​工程​服务、​bring-​up​服务、​培训​和​技术​支持​均可​帮助​您​快速​设置​和​启动​系统。

您​对​以下​哪个​解决​方案​感兴趣?

RF​前端

无线​芯​片​制造​商​已经​意识​到,​在​评估​测试​解决​方案​时,​上市​时间​压力​和​生产​测试​吞吐量​是​两​个​重要​的​考量​因素。 对于​RF​功率放大器​(PA)​和​前端​模​块​来说,​STS​在​测试​时间​和​吞吐量​上所​具有​的​优势​远胜​于​传统​ATE​解决​方案。 NI​积极​参与​到​各种​实验​室​应用​中,​这​使​其​在​5G NR​等​最新​无线​标准​测试​方面​具有​广泛​而​深入​的​经验。 而且,​NI​提供​了​具有​行业​领先​带​宽的​重要​IP​和​高​端​仪器,​可​助​您​加速​生产​测试​的​开发​和​部署​过程。

主要​特性

 

  • 为​复杂​RF​测量​提供​行业​领先​的​1 GHz​分析​带宽
  • 支持​无线​标准,​包括​GSM、​TD SCDMA、​WCDMA、​LTE、​LTE-​A、​5G NR​和​802.11a/​b/​g/​n/​ac/​ax
  • 最多​可​提供​48​个​双向​RF​端​口,​而且​具有​S​参数​测试​功能
  • 为​前端​模​块​(FEM)​分析​提供​SPI、​MIPI​和​自​定义​数字​通信库
  • 可​选​的​大功率​RF - 最高​可达​+40 dBm
  • 可​选​的​谐​波​测量 - 最高​可达​18 GHz
  • 可​选​的​噪声​系数​测量 - 支持​Y​因子​法​和​冷​源法

"我们​的​一部分​业务​单元​已经​开始​采用​STS,​在​他们​的​极力​推荐​下,​我们​的​RF​业务​部门​也​开始​尝试​使用​该​系统​开发​大规模​MIOM​应用。 我​对​这​一​举措​所​取得​的​成效​非常​满意;​对于​生产​部门​来说,​产量​就是​一切。 更高​的​产量​意味​着​我们​能够​更​快速​将​更多​产品​交付​到​客户​手中,​这​也​意味​着​营业​额​的​增加。"

David Reed,​NXP​全球​运营​执行​副总裁

IoT​设备

半导体​芯​片​制造​商​已经​意识​到,​物​联​网​(IoT)​的​出现​不仅​大幅​增加​了​物​联​网​半导体​器件​多样​性​和​数量,​而且​还​要求​以​非常​低​的​成本​这些​器件​进行​测试,​而​传统​ATE​解决​方​案​根本​无法​满足​这​一​要求。 对于​采用​蓝牙​LE、​NB-​IoT、​Wi-​Fi​和​ZigBee​等​通信​标准​且​基于​微​控制器​的​物​联​网​设备,​STS​提供​了​灵活​的​生产​测试​平台,​不仅​可以​进行​扩展​来​满足​不断​扩大​的​产量,​也​可​进行​简化​来​满足​日益​紧缩​的​预算。

主要​特性

 

  • 为​复杂​RF​测量​提供​行业​领先​的​1 GHz​分析​带​宽 
  • 支持​蓝牙​LE、​NB-​IoT、​Wi-​Fi​和​ZigBee​等​无线​连接​标准 
  • 可​选​的​音​频​输入​和​输出​仪器​资源 
  • 可​选​的​高​频​信号​生成​和​信号​捕获​仪器​资源


“NI​推出​STS​之​时,​我们​就​知道​那是​我们​的​选择​之一。 尝试​一下,​又有​何​不可​呢? 当​我们​将​STS​与​ATE​结合​时,​发现​这​完全​就是​我们​需要​的​解决​方案。​STS​帮助​我们​我们​每月​节省​了​60,000​美元​的​成本,​并​在​不到​两​年​的​时间​内​收回​全部​的​投资​成本。​我们​不仅​增加​了​测试​范围,​而且​还​提高​了​产品​质量。 而且,​由于​PXI​平台​的​长​使用​寿命​以及​NI​产品​的​稳定​性,​我们​坚信,​我们​正在​投资​的​平台​将​在​未来​数​十年​内​持续​给予​我们​回报。”

Warren Latter,​高级​测试​工程​师,​安美​森​半导体

混合​信号​器件

半导体​芯​片​制造​商​已经​意识​到,​在​各种​混合​信号​下​对​典型​和​极端​情况​下​的​设备​会​产生​各种​测试​要求。 对于​数据​转换​器、​电源​管理​IC、​指纹​传感器、​线性​器件​和​MEMS​器件​等​混合​信号​器件​而言,​STS​提供​了​灵活​的​生产​测试​平台,​不仅​能够​进行​扩展​来​满足​不断​增加​的​测试​需求,​也能​进行​简化​来​满足​有限​的​预算​需求。

主要​特性

 

  • 混合​信号​器件​测试​常用​的​仪器​包括​数字​仪器、​VI(直流​源​测量​单元)、​开关​等。
  • 交互​式​软件​有助​于​简化​测试​程序​开发、​加速​构​建​测试​系统​并​简化​调​试​流程。
  • 丰富​的​测量​库​为​测试​程序​开发​提供​更​上层​的​起点
  • 可​选​的​高​频​信号​生成​和​信号​捕获​仪器​资源
  • 可​选​的​音​频​输入​和​输出​仪器​资源

“最终,​我们​发现​STS​帮助​我们​提高​了​30%​的​速度,​而且​满足​我们​所有​的​需求,​而且​购买​成本​比​租赁​传统​ATE​要​低得​多。"

John Cooke,​产品​测试​经理,​Cirrus Logic

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服务


STS​服务​和​支持

NI​提供​的​专业​化​服务​和​项目​旨​在​帮助​半导体​测试​客户​满足​紧迫​的​时间​期限,​同时​帮助​他们​最大​程度​提高​效率,​优​化​测试​系统​性能,​并​确保​系统​的​长期​可用性。 每次​部署​STS​时,​NI​都​会​与​您​共同​确定​最能​满足​您​应用​需求​的​服务​级别,​以​确保​您​的​长期​成功。