반도체 사례 연구
엔지니어가 NI 하드웨어와 소프트웨어를 사용하여 차세대 무선 기술을 연구하고 프로토타이핑하며, 새로운 실리콘을 검증하거나 특성화하고, 반도체 디바이스의 대량 생산 테스트를 수행하는 방법을 배웁니다.
무선 연구, 설계 및 프로토타이핑
연구자들이 NI 소프트웨어 정의 라디오를 사용하여 FR3 주파수 대역, 재구성 가능한 지능형 표면 (RIS), 통합 감지 및 통신 (ISAC 또는 JCAS), 오픈 RAN 아키텍처와 같은 신기술과 무선 시스템을 빠르게 프로토타입하는 방법을 배웁니다.
연구자들은 Python API와 FPGA를 활용한 모듈형 플랫폼을 제작하여 통신 알고리즘과 RF 하드웨어 문제를 테스트하고 6G 연구 개념을 시연했습니다.
Rutgers University는 무선 통신에 관한 개방형 프로젝트 기반 강의에서 NI 범용 소프트웨어 라디오 주변 장치 (USRP) 트랜시버를 활용합니다.
상용 기성품 (COTS) 소프트웨어 정의 라디오 (SDR)를 기반으로 하는 고성능 테스트베드로 새로운 무선 기술을 신속히 프로토타이핑합니다.
George Mason University는 NI SDR과 Open AI Cellular (OAIC) 플랫폼이 제공하는 표준 인터페이스를 활용하여 Open RAN (O-RAN) 아키텍처용 테스트 베드를 구축했습니다.
반도체 검증 및 특성화
반도체 엔지니어가 NI 하드웨어와 소프트웨어를 활용해 설계 검증과 IC 특성화를 가속화하는 방법을 알아봅니다.
NewPath Research LLC는 반도체 산업을 지원하기 위해 서브나노미터(sub-nm) 급 해상도의 비파괴적 고해상도 캐리어 프로파일링 시스템을 개발했습니다.
Holst Centre/imec는 시간을 절약하면서 새로운 초저전력 반도체 칩 설계를 정확하게 검증 및 특성화하는 자동화 테스트 시스템을 개발했습니다.
Melexis GmbH는 일관성, 범위 및 분석 품질을 개선하고, 시장 출시 시간을 단축하며 품질을 향상시키는 새로운 검증 테스트 전략을 구현했습니다.
Texas Instruments는 글로벌 설계 환경에서 점점 복잡해지는 무선 및 RF 디바이스의 특성화를 간소화했습니다.
Dolphin Integration은 I²C 버스를 사용하여 아날로그 신호를 멀티플렉스하고, 아날로그 및 디지털 신호를 생성 및 수집하며, 구성요소를 제어하는 모듈형 솔루션을 설계했습니다.
Infineon Technologies는 직관적인 사용자 인터페이스를 갖춘 무인 테스트 벤치를 개발하여 완전한 마이크로컨트롤러 테스트 워크플로를 통합하고 자동화했습니다.
NXP Semiconductors는 전문 테스트 하드웨어 인프라나 지속적 업그레이드에 막대한 투자 없이 주변 소프트웨어의 자동 테스트를 완료했습니다.
Texas Instruments는 NI PXI 계측기를 활용해 RFIC 테스트 및 개발 품질을 향상시키면서 비용, 측정 및 특성화 시간을 줄였습니다.
Texas Instruments는 수백 개의 PMIC 테스트 시퀀싱을 지원하고 여러 계측기, SMU 등과 상호작용하는 자동화 테스트 시스템을 구축했습니다.
Qualcomm Atheros사는 기존의 랙 앤 스택 계측기보다 테스트 커버리지를 크게 확장하면서 무선 테스트 속도를 200배 이상 향상했습니다.
NI 컨설턴트 파트너인 Soliton과 협력하고 있는 Ltd는 SoC (System-On-Chip) 제품의 벤치 특성화를 축소하기 위해 CyMatrix라는 ATE 유사 플랫폼을 개발했습니다.
Soliton Technologies Pvt. Ltd는 반도체 자동화를 높이고 가속화된 제품 개발 및 검증 주기를 지원하는 프레임워크를 개발했습니다.
대량 반도체 생산 테스트
엔지니어가 NI의 대량 제조 테스트 솔루션과 고급 분석을 활용해 반도체 수율과 품질을 개선하는 방법을 배웁니다.
연구진은 NI SourceAdapt 기술을 활용해 기존 랙 앤 스택 방식의 소스 측정 유닛 (SMU) 기반 LED 테스터보다 5배 빠른 속도를 달성했습니다.
Imec은 전기적 웨이퍼 레벨 테스트로 조기 단계에서 프로세스 관련 문제를 감지하여 수율 저하를 관리하고, 프로세스 흐름을 최적화하고, 비용을 절감하고, 시장 출시 시간을 단축했습니다.
Jetek Technology는 업계 표준을 충족하는 32사이트 마이크로전자기계 센서 (MEMS) 마이크로폰 테스트 장비를 단기간에 개발했습니다.
imec vzw는 STS를 이용해 첨단 테스트 웨이퍼 상의 대형 배열 미세 피치 마이크로범프용 프로토타입 프로브 카드를 자동으로 특성화하는 시스템을 개발했습니다.
ON Semiconductor Belgium은 이미지 센서에 대한 웨이퍼 소트 및 최종 시험을 가능하게 하는 고급, 확장 가능하며 비용 효율적인 혼합 신호 ATE 생산 테스터를 개발했습니다.
Afore는 KRONOS 웨이퍼 레벨 테스트 핸들러와 통합 PXI 기반 하드웨어를 사용해 저가속도 가속도계 및 자이로스코프 테스트를 가능하게 했습니다.
SYNERGIE CAD INSTRUMENTS는 ATE 생산성에 영향을 미치지 않고 테스트 픽스처를 최대한 활용하고 수명을 연장하는 다목적 솔루션 FlexyTest를 개발했습니다.
연구팀은 하이브리드 반도체 컴포넌트 생산 테스트를 위해 새로운 맞춤 테스트 시퀀스를 신속히 구성하고 조립할 수 있는 맞춤형 Test Executive를 개발했습니다.
Project Integration LLC는 직관적인 UI를 갖춘 자동화 테스트 시스템을 개발하여 고출력 IGBT 및 MOSFET 트랜지스터 파라미터를 측정합니다.
G Systems, LP는 웨이퍼 프로브 테스트 처리량을 늘리고 다양한 반도체 센서에 맞게 테스터 유연성을 향상시키는 시스템을 개발했습니다.
ST-Ericsson은 IC 내 비정상 전기적 동작을 유발하는 고장 메커니즘을 실시간으로 탐지하는 시스템을 개발했습니다.