이 웨비나에서는 효율적인 개발 검증 및 디버깅 기술에 관한 내용을 공유합니다. 시각적 디버깅, 리얼타임 검증 및 협업 도구에 대해 알아보고, 작업 흐름 최적화를 위한 NI InstrumentStudio™ 소프트웨어 관련 실습 경험을 제공합니다.
디바이스가 점점 더 스마트해지면서 반도체 테스트 솔루션도 점점 더 스마트해집니다. NI가 실험실에서 생산 현장까지 확장 가능한 비용 효율적인 소프트웨어와 솔루션을 어떻게 제공하는지 알아보십시오.
NI는 반도체 기술 요구사항이 기존의 테스트 방식으로 감당할 수 없을 정도로 되고 있다는 점을 알고 있습니다. 이것이 바로 NI가 프로세스의 모든 단계에서 진화하는 비즈니스 요구사항을 충족하는 솔루션을 구축하는 데 도움이 될 수 있도록 반도체 제조 소프트웨어, 시스템 및 자동 테스트 장비 (ATE)에 대한 투자를 우선시하는 이유입니다. 아날로그, 혼합 신호, 5G 및 RF 디바이스에 대한 테스트 지원을 갖추고 있으므로 NI는 신제품 출시 지원에 특히 잘 맞습니다.
5G가 본격적으로 상용화되면서, FR3 대역, 통합 센싱 및 통신 (ISAC/JCAS), 오픈 RAN 아키텍처 등 새로운 기술을 접목한 6G 기술 개발이 한창입니다. 가장 핵심적인 기반 기술로 자리매김할 것입니다.
유연하고 고성능의 계측 장비 및 소프트웨어 연동 워크플로를 통해 RF 프론트엔드와 연결 디바이스의 시장 출시 시간을 단축하세요. 초기 대화형 측정 단계부터 완전 자동화에 이르기까지 종합적으로 지원합니다.
모듈화되고 확장 가능한 계측 장비 및 소프트웨어 연동 워크플로를 통해 혼합 신호 IC의 효율성을 개선하고 시장 출시 시간을 단축하세요. 초기 대화형 측정 단계부터 완전 자동화에 이르기까지 종합적으로 지원합니다.
전통적인 반도체 자동 테스트 장비 (ATE) 솔루션보다 비용을 절감하고 고급 RF, 혼합 신호 및 광전자 반도체 디바이스에 대한 테스트 범위를 향상시키는 더 스마트한 대안을 탐색하세요. 이는 대량 생산 환경에 적합합니다.
전력 반도체 기술은 실리콘에서 와이드 밴드갭으로 빠르게 발전하고 있으며, 이와 더불어 테스트 및 자격증에 대한 요구사항과 표준 역시 발전하고 있습니다. 안정성을 보장하는 NI의 새로운 동적 테스트 솔루션에 대해 알아보십시오.
트랜지스터 소형화 기술의 발전으로 고성능이면서도 전력 효율이 우수한 반도체 소자의 구현이 가능해졌습니다. 이에 따라 웨이퍼 파라미터 테스트 솔루션은 신뢰성 평가 주기를 단축하기 위해 높은 병렬 테스트 확장성을 지원하는 고급 기능이 요구됩니다.
이 웨비나에서는 효율적인 개발 검증 및 디버깅 기술에 관한 내용을 공유합니다. 시각적 디버깅, 리얼타임 검증 및 협업 도구에 대해 알아보고, 작업 흐름 최적화를 위한 NI InstrumentStudio™ 소프트웨어 관련 실습 경험을 제공합니다.
고객 사례
Allegro MicroSystems는 반도체 효율성을 향상시키기 위해 NI와 협력하고, 설계 초기 단계에 혁신적인 테스트 전략을 도입하여 그 누구도 따라올 수 없는 탁월한 품질과 속도를 실현하고 있습니다.
NI PXI RF 계측기, NI 소프트웨어, 글로벌 협력이 뒷받침하는 확장 가능한 지능형 테스트 전략을 통해 어떻게 Qualcomm이 RF 검증 시간을 30% 단축했는지 살펴봅니다.
LED 칩이 작아질수록 웨이퍼당 칩의 개수는 수천만 개로 증가합니다. NI의 PXI SMU는 FitTech가 처리량 문제를 해결하는 데 도움이 되었습니다.
Imec은 정확한 전기적 웨이퍼 레벨 테스트로 조기 단계에서 프로세스 관련 문제를 감지하여 수율 저하를 관리하고, R&D 프로세스 흐름을 최적화하고, 비용을 절감하고, 시장 출시 시간을 단축했습니다.
NI 서비스
NI 서비스로 생산성을 극대화하고 비용을 절감해 보십시오. NI는 귀하의 신뢰할 수 있는 파트너이자 전문 연결자로서, 귀하가 Engineer Ambitiously™를 실현할 수 있도록 도와드립니다.