이 웨비나에서는 효율적인 개발 검증 및 디버깅 기술에 관한 내용을 공유합니다. 시각적 디버깅, 리얼타임 검증 및 협업 도구에 대해 알아보고, 작업 흐름 최적화를 위한 NI InstrumentStudio™ 소프트웨어 관련 실습 경험을 제공합니다.
디바이스가 점점 더 스마트해지면서 반도체 테스트 솔루션도 점점 더 스마트해집니다. NI가 실험실에서 생산 현장까지 확장 가능한 비용 효율적인 소프트웨어와 솔루션을 어떻게 제공하는지 알아보십시오.
NI는 반도체 기술 요구사항이 기존의 테스트 방식으로 감당할 수 없을 정도로 되고 있다는 점을 알고 있습니다. 이것이 바로 NI가 프로세스의 모든 단계에서 진화하는 비즈니스 요구사항을 충족하는 솔루션을 구축하는 데 도움이 될 수 있도록 반도체 제조 소프트웨어, 시스템 및 자동 테스트 장비 (ATE)에 대한 투자를 우선시하는 이유입니다. 아날로그, 혼합 신호, 5G 및 RF 디바이스에 대한 테스트 지원을 갖추고 있으므로 NI는 신제품 출시 지원에 특히 잘 맞습니다.
5G가 성숙해짐에 따라, FR3 대역, 통합 감지 및 통신(ISAC 또는 JCAS), 개방형 RAN 아키텍처와 같은 새로운 기술을 결합하는 6G 개발이 진행 중입니다. 이러한 모든 분야에서 AI는 핵심 기반 기술이 됩니다.
유연한 고성능 인스트루먼테이션 및 소프트웨어 연결 작업 흐름을 통해 RF 프런트 엔드 및 연결 디바이스의 출시 시간을 단축합니다. 첫 번째 대화식 측정부터 완전 자동화까지.
확장 가능한 모듈형 계측 방식과 첫 대화식 측정부터 완전 자동화까지 포괄하는 소프트웨어 연결 워크플로를 통해 혼합 신호 IC의 효율성을 향상시키고 출시 소요 시간을 단축해 보십시오.
대량 생산되는 고급 RF, 혼합 신호 및 광전자 반도체 디바이스의 전체 비용을 절감하고 테스트 범위를 향상시키는 기존 반도체 자동화 테스트 장비(ATE) 솔루션의 더 스마트한 대안을 살펴봅니다.
전력 반도체 기술은 실리콘에서 와이드 밴드갭으로 빠르게 발전하고 있으며, 이와 더불어 테스트 및 자격증에 대한 요구사항과 표준 역시 발전하고 있습니다. 안정성을 보장하는 NI의 새로운 동적 테스트 솔루션에 대해 알아보십시오.
트랜지스터 구조의 미세화로 고성능 및 전력 효율적인 반도체 디바이스의 구현이 가능해지고 있습니다. 웨이퍼 파라메트릭 테스트 솔루션은 높은 병렬성으로 확장할 수 있는 고급 기능과 옵션이 필요하여 신뢰성 테스트 주기를 가속화할 수 있습니다.
이 웨비나에서는 효율적인 개발 검증 및 디버깅 기술에 관한 내용을 공유합니다. 시각적 디버깅, 리얼타임 검증 및 협업 도구에 대해 알아보고, 작업 흐름 최적화를 위한 NI InstrumentStudio™ 소프트웨어 관련 실습 경험을 제공합니다.
고객 사례
Allegro MicroSystems는 반도체 효율성을 향상시키기 위해 NI와 협력하고, 설계 초기 단계에 혁신적인 테스트 전략을 도입하여 그 누구도 따라올 수 없는 탁월한 품질과 속도를 실현하고 있습니다.
NI PXI RF 계측기, NI 소프트웨어, 글로벌 협력이 뒷받침하는 확장 가능한 지능형 테스트 전략을 통해 어떻게 Qualcomm이 RF 검증 시간을 30% 단축했는지 살펴봅니다.
LED 칩이 작아질수록 웨이퍼당 칩의 개수는 수천만 개로 증가합니다. NI의 PXI SMU는 FitTech가 처리량 문제를 해결하는 데 도움이 되었습니다.
Imec은 정확한 전기적 웨이퍼 레벨 테스트로 조기 단계에서 프로세스 관련 문제를 감지하여 수율 저하를 관리하고, R&D 프로세스 흐름을 최적화하고, 비용을 절감하고, 시장 출시 시간을 단축했습니다.
NI 서비스
NI 서비스로 생산성을 극대화하고 비용을 절감해 보십시오. NI는 귀하의 신뢰할 수 있는 파트너이자 전문 연결자로서, 귀하가 Engineer Ambitiously™를 실현할 수 있도록 도와드립니다.