생산 테스트 시스템을 개발, 배포, 디버깅, 최적화, 교정할 수 있는 종합적인 어플리케이션 및 드라이버를 얻습니다. 시스템 버전 정합성을 보장하면서 테스트 프로그램 생성을 간소화하고, 병렬 테스트 효율성을 높이고, 운영자 인터페이스를 사용자 정의합니다.
STS는 RF, 혼합 신호, 미세전자기계 시스템 (MEMS) 반도체 디바이스에 대해 비용 최적화된 연구실 품질의 테스트를 신속하게 제공하는 턴키 ATE 솔루션입니다.
각 NI STS 설정은 확장 가능한 핀 카운트 및 사이트 카운트 요구사항을 충족하는 교환 가능한 디바이스 인터페이스 보드를 제공하며, 초소형에서 대용량까지 세 가지 모델 크기로 제공됩니다.
RF ATE를 통합 안테나 모듈, 필터, 증폭기 등을 포함하여 제품 포트폴리오의 생산 테스트 요구사항에 맞게 조정합니다.
데이터 변환기, 선형 아날로그 컴포넌트, 통신 인터페이스 등을 포함하여 사용자 포트폴리오의 생산 테스트 요구사항에 맞게 혼합 신호 ATE를 최적화합니다.
미세전자기계 시스템 (MEMS) ATE를 센서 및 액추에이터를 포함한 제품 포트폴리오의 생산 테스트 요구사항에 맞게 사용자 정의하십시오.
우리의 다른 비즈니스 단위는 이미 STS를 채택했습니다...이들의 권장 사항은 RF 비즈니스가 대규모 MIMO 어플리케이션을 위해 그것을 시도하도록 설득했습니다. 진행 상황에 대해 매우 기쁘게 생각합니다. 처리량이 높으면 더 많은 디바이스가 더 빨리 배송되며, 이는 비즈니스 결과를 의미합니다.
GO (Global Operations) 담당 부사장
NXP
생산 테스트 시스템을 개발, 배포, 디버깅, 최적화, 교정할 수 있는 종합적인 어플리케이션 및 드라이버를 얻습니다. 시스템 버전 정합성을 보장하면서 테스트 프로그램 생성을 간소화하고, 병렬 테스트 효율성을 높이고, 운영자 인터페이스를 사용자 정의합니다.
여러 제조업 및 기업 데이터 소스의 데이터를 수집, 정리 및 분석하는 AI 기반 분석 소프트웨어를 사용하여 모든 제품 수명 주기 단계를 최적화합니다. 고급 분석 기능을 통해 제품 변동을 최소화하고 생산량을 향상시키는 방법을 알아봅니다.
NI는 반도체 테스트 어플리케이션의 중요한 가동 시간 요구사항을 충족하도록 설계된 포괄적인 엔지니어링 서비스 및 특수 하드웨어 프로그램을 제공합니다. 이러한 솔루션을 사용하면 효율성을 극대화하고 테스터 성능을 향상시키고 시스템 수명을 연장할 수 있습니다. STS 배포 시, NI는 고객과 협력하여 어플리케이션 요구를 충족시키고 장기적인 성공을 보장하는 서비스 수준을 결정합니다.
반도체 테스트 시스템 구축 및 최적화를 위한 전문적인 지원을 제공하는 검증된 STS 전문성을 보유한 NI 파트너를 찾아보십시오.
PXI 소스 측정 유닛(SMU)은 테스트 시간 단축 및 유연성 증대를 목적으로 하는 기능과 고정밀 소스 및 측정 기능을 결합한 제품입니다.
PXI 디지털 패턴 계측기는 업계 표준 PXI 플랫폼에 ATE 등급 디지털 기능을 구현합니다. 이는 광범위한 RF 및 혼합 신호 IC를 테스트할 수 있도록 설계되었습니다.
벡터 신호 트랜시버 (VST)는 벡터 신호 생성기, 벡터 신호 분석기, 사용자 프로그래밍 가능 FPGA를 하나의 디바이스로 통합합니다. 셀룰러 디바이스 테스트 및 RFIC 특성화 등의 RF 및 무선 어플리케이션에 이 제품을 사용할 수 있습니다.