반도체 테스트 시스템(STS)이란?

3가지 다른 NI 반도체 테스트 시스템 (STS) 모델 크기가 서로 옆에 배치되어 있습니다.

STS는 RF, 혼합 신호, 미세전자기계 시스템 (MEMS) 반도체 디바이스에 대해 비용 최적화된 연구실 품질의 테스트를 신속하게 제공하는 턴키 ATE 솔루션입니다.

반도체 테스트 솔루션의 이점

볼륨 테스트 최적화

STS 모듈형 PXI 아키텍처와 저가 인프라를 사용하여 고가의 플랫폼 테스터의 수요를 오프로드하고 공장 공간을 복구할 수 있습니다. 사용자 정의 가능한 I/O를 사용하여 테스트 비용, 속도 및 범위의 균형을 맞추어 복잡한 제품 요구에 적합합니다.

처리량 및 반복성 향상

빠르고 반복 가능한 자동화와 높은 사이트 카운트 기능을 통해 보다 신속한 테스트 주기를 구현합니다. STS PXI 구조는 정밀한 타이밍과 인스트루먼트 동기화를 가능하게 하고, STS 소프트웨어는 개발 및 실행을 간소화합니다.

출시 기간 단축

랩급 PXI 인스트루먼트를 생산에 통합하여 원활한 데이터 상관을 수행하고 출시 시간을 단축합니다. 코드, 루틴, 고성능 인스트루먼트를 재사용하여 테스트를 표준화하여 주간의 가져오기 및 상관 시간을 절약합니다.

기계적 통합 단순화

STS 표준 도킹을 사용하여 조작기, 핸들러, 프로버, 로드 보드와의 통합을 간소화합니다. 설정 간의 호환성을 보장하고 설정의 복잡성과 시간을 최소화합니다.

응용 프로그램에 적합한 반도체 테스트 시스템 구성 선택

각 NI STS 설정은 확장 가능한 핀 카운트 및 사이트 카운트 요구사항을 충족하는 교환 가능한 디바이스 인터페이스 보드를 제공하며, 초소형에서 대용량까지 세 가지 모델 크기로 제공됩니다.

RF STS 구성

RF ATE를 통합 안테나 모듈, 필터, 증폭기 등을 포함하여 제품 포트폴리오의 생산 테스트 요구사항에 맞게 조정합니다.

 

  • 활성 및 수동 RF 칩에 대한 테스트 최적화 
  • 1 GHz 분석 대역폭으로 품질 보장
  • 무선 표준 준수 확인

혼합 신호 STS 설정

데이터 변환기, 선형 아날로그 컴포넌트, 통신 인터페이스 등을 포함하여 사용자 포트폴리오의 생산 테스트 요구사항에 맞게 혼합 신호 ATE를 최적화합니다.

 

  • 최적의 테스트를 위해 하드웨어 사용자 정의
    유닛
  • 측정 라이브러리를 사용하여 테스트 프로그래밍의 가속화
  • 오디오/고주파수 옵션으로 테스트 개선

MEMS STS 설정

미세전자기계 시스템 (MEMS) ATE를 센서 및 액추에이터를 포함한 제품 포트폴리오의 생산 테스트 요구사항에 맞게 사용자 정의하십시오.

 

  • 병렬 테스트 효율이 98% 이상(PTE)
  • 확장 가능한 PXI ATE를 통해 총 비용 절감
  • 높은 SNR 테스트를 위한 랩 등급 정확도 얻기

우리의 다른 비즈니스 단위는 이미 STS를 채택했습니다...이들의 권장 사항은 RF 비즈니스가 대규모 MIMO 어플리케이션을 위해 그것을 시도하도록 설득했습니다. 진행 상황에 대해 매우 기쁘게 생각합니다. 처리량이 높으면 더 많은 디바이스가 더 빨리 배송되며, 이는 비즈니스 결과를 의미합니다.

데이비드 리드

GO (Global Operations) 담당 부사장

NXP

다른 생산 테스트 옵션에 대해 설명해 보겠습니다.

NI Semiconductor 테스트 솔루션에 대한 보다 자세한 사항은 기술 전문가와 상담해 주십시오.

포괄적인 소프트웨어로 신속한 생산 테스트

STS 소프트웨어 번들

생산 테스트 엔지니어가 반도체 디바이스 테스트 플롯을 보여주는 두 데스크탑 컴퓨터 모니터를 살펴봅니다.

생산 테스트 시스템을 개발, 배포, 디버깅, 최적화, 교정할 수 있는 종합적인 어플리케이션 및 드라이버를 얻습니다. 시스템 버전 정합성을 보장하면서 테스트 프로그램 생성을 간소화하고, 병렬 테스트 효율성을 높이고, 운영자 인터페이스를 사용자 정의합니다.

NI OptimalPlus 글로벌 분석

데스크탑 컴퓨터를 사용하여 생산 프로세스 흐름을 모니터링하는 자동화 엔지니어.

여러 제조업 및 기업 데이터 소스의 데이터를 수집, 정리 및 분석하는 AI 기반 분석 소프트웨어를 사용하여 모든 제품 수명 주기 단계를 최적화합니다. 고급 분석 기능을 통해 제품 변동을 최소화하고 생산량을 향상시키는 방법을 알아봅니다.

STS 서비스 및 지원​

NI는 반도체 테스트 어플리케이션의 중요한 가동 시간 요구사항을 충족하도록 설계된 포괄적인 엔지니어링 서비스 및 특수 하드웨어 프로그램을 제공합니다. 이러한 솔루션을 사용하면 효율성을 극대화하고 테스터 성능을 향상시키고 시스템 수명을 연장할 수 있습니다. STS 배포 시, NI는 고객과 협력하여 어플리케이션 요구를 충족시키고 장기적인 성공을 보장하는 서비스 수준을 결정합니다.

STS 파트너

NI 서비스 파트너가 고객의 테스트 시스템 설정을 도와주는 모습

반도체 테스트 시스템 구축 및 최적화를 위한 전문적인 지원을 제공하는 검증된 STS 전문성을 보유한 NI 파트너를 찾아보십시오.

PXI 계측기 보기

NI PXI 소스 측정 유닛

PXI 소스 측정 유닛(SMU)은 테스트 시간 단축 및 유연성 증대를 목적으로 하는 기능과 고정밀 소스 및 측정 기능을 결합한 제품입니다.

NI PXI 디지털 패턴 계측기

PXI 디지털 패턴 계측기는 업계 표준 PXI 플랫폼에 ATE 등급 디지털 기능을 구현합니다. 이는 광범위한 RF 및 혼합 신호 IC를 테스트할 수 있도록 설계되었습니다.

NI PXI 벡터 신호 트랜시버

벡터 신호 트랜시버 (VST)는 벡터 신호 생성기, 벡터 신호 분석기, 사용자 프로그래밍 가능 FPGA를 하나의 디바이스로 통합합니다. 셀룰러 디바이스 테스트 및 RFIC 특성화 등의 RF 및 무선 어플리케이션에 이 제품을 사용할 수 있습니다.