신속한 기술 변화로 인해 엔지니어는 RF 및 혼합 신호 IC의 품질을 유지하면서 반도체 테스트 비용을 절감해야 하는 과제에 직면해 있습니다. AI 중심 디바이스는 고성능 ATE 수요를 증가시키는 한편, 기존 플랫폼은 점점 도태되고 있습니다. 기존 ATE 시스템은 유연성이 부족하고 비용이 높아, 아날로그 및 혼합 신호 제조사들은 비용, 속도, 테스트 커버리지 간 균형을 맞출 수 있는 유연한 테스트 솔루션을 모색하고 있습니다.
디바이스 복잡성은 증가하고 있지만, 테스트 비용이 반드시 증가해야 하는 것은 아닙니다. NI 모듈형 소프트웨어 정의 테스트 시스템은 특성화부터 대량 반도체 테스트까지 확장 가능하며, 디바이스당 비용을 절감하고 수율 향상 속도를 가속화합니다. 양산 준비가 된 ATE 턴키 솔루션, 고도로 최적화된 맞춤형 PXI 테스터, 또는 분석 기반 수율 최적화를 위한 지능형 엔터프라이즈 소프트웨어가 필요하든, NI 기술은 제품 라이프사이클의 모든 단계에서 테스트 커버리지, 처리량, 비용의 균형을 조정할 수 있도록 지원합니다.
주요 솔루션
NI 반도체 테스트 시스템 (STS)은 PXI 인스트루먼트, 테스트 프로그램 소프트웨어 및 현장(in-situ) 교정을 산업용 테스트 헤드 폼팩터로 결합하여 원활한 테스트 셀 통합을 제공합니다. RF 디바이스 및 혼합 신호 IC 분야에서 검증된 이 시스템은 품질 저하 없이 탁월한 처리량과 비용 효율성을 실현합니다.
NI STS는 RF 디바이스 및 혼합 신호 IC용 즉시 사용 가능한 ATE를 제공하는 지능형, 비용 최적화 반도체 생산 테스트 솔루션입니다. 맞춤형 요구사항의 경우, 모듈형 PXI 인스트루먼트, 사전 조립된 19인치 테스트 랙, 테스트 자동화 및 분석 소프트웨어를 통해 유연성, 확장성, 생산 전환 가속화를 제공합니다. 두 옵션 모두 모듈형 소프트웨어 연동 방식을 활용하여 디버깅, 개발, 자동화 과정을 간소화하고 시장 출시 시간을 단축합니다.
ON Semiconductor는 기존 ATE 솔루션으로는 요구사항을 충족할 수 없었던 상황에서, 웨이퍼 검사와 최종 테스트 전반에 걸쳐 확장성과 비용 효율성이 우수한 ATE 솔루션으로 NI STS를 선택했습니다.
FitTech는 품질 저하 없이 MiniLED 생산 테스트의 공간 점유율을 줄이고, 테스트 시간을 단축하며, 병렬 처리를 증대시키기 위해 NI PXI 소스 측정 유닛(SMU)을 도입했습니다.
당사는 다양한 제품 포트폴리오의 웨이퍼 프로브 및 최종 패키지 테스트에 STS를 동시에 활용하고 있습니다. 현재까지 수억 개 이상의 유닛을 테스트했습니다. 해당 시스템의 탁월한 신뢰성과 가용성에 지속적으로 강한 인상을 받고 있습니다.
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Analog Devices
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