半導体ユーザ事例

研究者はPython APIとFPGAを備えたモジュール式プラットフォームを開発し、通信アルゴリズムのテスト、RFハードウェアの課題検証、6G研究の概念実証に活用しました。

ラトガース大学では、ワイヤレス通信に関するオープンエンドのプロジェクトベース授業で、NI Universal Software Radio Peripheral (USRP) トランシーバを使用しています。

市販 (COTS) のソフトウェア無線 (SDR) を基盤とした高性能テストベッドを用いて、新しいワイヤレス技術を迅速にプロトタイピングできます。 

ジョージメイソン大学は、NI SDRとOpen AI Cellular (OAIC) プラットフォームによる標準インタフェースを備えたオープンRAN (O-RAN) アーキテクチャのテストベッドを構築しました。

Soliton Technologies Pvt.Ltd.は自動化の向上と製品開発/検証サイクルの加速を実現する半導体フレームワークを開発しました。 

研究者は走査電子顕微鏡 (SEM) 制御システムを開発し、外部アプリケーションと通信するための.NET相互運用アセンブリを構築しました。

AmfaxはXYZ測定に基づく検査技術を開発し、企業が製造するPCB組立品の品質向上を支援しました。

研究者はNIカスタム過渡応答技術を活用し、従来のラックアンドスタック型ソースメジャーユニット (SMU) で構成されたLEDテスタより5倍高速なLEDテスタを開発しました。

imecは電気的ウェーハレベルテストを採用し、製造工程の問題を早期に検出、歩留まり管理、工程最適化、コスト削減、および市場投入期間短縮を実現しました。 

Jetek Technologyは業界標準に準拠した32サイト対応の微小電気機械システム (MEMS) マイクロフォンテスト装置を短期間で開発しました。

imec vzwはSTSを活用し、先端テスト用ウェーハ上の大規模配列微細ピッチマイクロバンプのプロトタイププローブカードの特性評価を自動化するシステムを開発しました。

ON Semiconductor Belgiumは、イメージセンサのウエハソートと最終テストを可能にする、ハイエンドで拡張性と費用対効果に優れたミックスドシグナルATE製造テスタを開発しました。

Afore KRONOSウェーハレベルテストハンドラと統合されたPXIベースのハードウェアにより、低G加速度計とジャイロスコープのテストが可能になりました。

SYNERGIE CAD INSTRUMENTSは、ATEの生産性を損なうことなくテスト治具を最大限活用し、その稼働寿命を延ばす多用途ソリューションFlexyTestを開発しました。 

研究者はハイブリッド半導体コンポーネント生産テスト用に、新しいカスタムテストシーケンスを迅速に構築および設定するためのカスタムテストエグゼクティブを作成しました。

Project Integration LLCは、直感的なユーザインタフェースを備え、高出力IGBTおよびMOSFETトランジスタのパラメータを測定する自動テストシステムを構築しました。 

G Systems, LPは、ウェーハプローブテストのスループットを向上し、さまざまな半導体センサに対応可能なテスタの柔軟性を高めるシステムを開発しました。 

ST-Ericssonは、IC内で異常な電気特性を引き起こす故障機構をリアルタイムに特定するシステムを開発しました。