「STSを使用したテストプログラム開発」コースでは、検査対象デバイス (DUT) と通信するための半導体テストシステム (STS) の設定と使用の実践的なトレーニングについて説明します。このコースは、一般的な半導体テストのワークフローとマイルストーンに従います。ここでは、対応するハードウェアの詳細な操作も扱います。このコースを修了すると、テストエンジニアはSTSテスタリソースを対話的に使用して、既存のコードモジュール (LabVIEWまたは.NET/C#を使用して開発) を使用してテストプログラムを作成、変更、実行、デバッグし、テストデータとテスト時間レポートを収集できるようになります。
コースの前回リリース日/バージョン番号: オンデマンド:23.0
オンデマンド:5時間
NI半導体テストシステム (STS) を使用または評価して、半導体製造テストまたは大量自動デバイス検証を実行する半導体テストエンジニア。
半導体テストの計画と方法に関する一般的な知識
一般的なコンピュータスキル
基本的なテストエンジニアリングの知識
STSソフトウェアバンドル
半導体テストシステム (STS)
講師指導によるオンライントレーニングには、NIラーニングセンターを通じて提供されるデジタルコースの教材が含まれています。
NIの講師指導によるオンライントレーニングは、Zoomを使用して配信されます。また、参加者はAmazon AppStream/LogMeinにアクセスして、最新のソフトウェアを搭載した仮想マシンで演習を実施することができます。
混成信号半導体デバイスをテストするためのSTSをセットアップおよび構成します。
DUTと通信します。
STSテスタのリソースを使用して、事前に作成されたコードモジュールを使用し、テストプログラムを対話的に作成、変更、実行、デバッグします。
テストプログラムのアーキテクチャを記述し、変更し、実行フローを構成します。
デバッグパネルを使用してデバイス、信号、テストシーケンスをデバッグします。
テストデータを収集し、テストレポートを生成します。
テスト時間のベンチマークを行います。
| レッスン | 概要 | トピック |
|---|---|---|
| STSの概要 | 半導体テストシステム (STS) の主な概念を確認します。 |
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| テストヘッドを理解する | 上位レベルの機能と、STSテストヘッド用I/Oを確認します。 |
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| ロードボードを理解する | デバイスインタフェースボード (DIB) と、さまざまなロードボードインタフェースタイプの上位機能を確認します。 |
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| STSとドッキングおよび通信する | 一般的なテストセルのトポロジを説明し、STSの複数のドッキングオプションを確認します。 |
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| NI STSソフトウェアを理解する | STSの監視、保守、デバッグ、キャリブレーションを実行するためのソフトウェアツールと、STSのテスト開発およびコードモジュール開発環境を説明します。 |
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| テスト開発者ワークフローを参照する | サンプルのテスト開発者ワークフローとその主な手順を説明します。 |
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| STSの安全要件と仕様を詳細に調べる | STSシステムの安全要件と仕様、安全規格準拠、環境仕様を確認および適用します。 |
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テスタ計測器を理解する | STS PXIプラットフォームと一般的なSTS計測器を確認します。 |
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| システム仕様を理解する | STS T1、T2、およびT4の入出力仕様を確認します。 |
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| STSのキャリブレーション | STSシステムで使用されている校正モジュールと校正のタイプを確認します。 |
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| STSプロジェクトを作成する | テストプログラムを作成し、テストプログラム用に作成したシーケンスファイルとフォルダストラクチャを確認します。 |
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| ピンマップを理解する | ピンマップの目的と、STSハードウェアをDUTピンにマッピングする際におけるピンマップの役割を確認します。 |
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| テスタの構成とロードボードの回路図を確認する | 標準のテスタドキュメント、その内容、目的を説明します。 |
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| 測定要件のマッピングを行う | 測定要件をマッピングし、システムおよび搭載されている計測器が、テスト計画の測定要件を満たすことを確認します。 |
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| DUTピンを計測器のチャンネルにマッピングする | ピンマップエディタを使用してピンマップファイルを作成および変更し、DUTピンを計測器のチャンネルにマッピングします。 |
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| デバイスインタフェースボードを使用してDUTと通信する | 計測器をデバイスインタフェースボード (DIB) に接続するさまざまな方法を説明し、独自のロードボードの設計に役立つリソースを特定します。 |
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| DUTの導通を確認する | 他のテストを実行する前に、デジタルパターン計測器を使用してDUTの導通をテストします。 |
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| DUTを表示する | Digital Pattern Editorを使用して検査対象デバイス (DUT) を表示し、テストを開始できるようにします。 |
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| 漏れ電流を測定する | 他のテストを実行する前に、デジタルパターン計測器を使用してDUTの漏れ電流を測定します。 |
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| DUTとの通信を準備する | デジタルプロジェクトと関連付けられたファイルタイプを特定します。さらに、デジタルパターンを作成する前にDUTと通信するために作成する必要があるファイルについて説明します。 |
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| DUTと通信するための基本的なデジタルパターンを作成する | Digital Pattern Editorを使用して、DUTと通信するための基本デジタルパターンを作成、編集、ロード、バーストします。 |
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| 既存のデジタルパターンを変換する | Digital Pattern Editorで使用できるよう、他の環境で開発されたパターンを変換します。 |
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| テストシーケンスファイルを理解する | テストシーケンスファイルの主なコンポーネントと、各コンポーネントの使用方法を確認します。 |
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| テストシーケンスにステップを追加する | テストシーケンスにステップを挿入する方法を説明します。 |
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| テストステップを作成および構成する | STSプロジェクトで、コードモジュールを呼び出すテストステップを作成および構成します。 |
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| テストステップテンプレートを使用する | 利用できるさまざまなステップテンプレートについて説明し、それをテストシーケンスの中で使用する方法を説明します。 |
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| TestStandの実行を制御する | テストシーケンスを実行し、テスト条件や設定に応じてテストシーケンスの実行方法を変化させます。 |
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| テスト制限を設定する | テスト制限値を作成、調査、インポートして、さまざまなシナリオのテストシーケンスを迅速に更新します。 |
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| テスト構成を作成する | テストプログラムエディタとテスト要件を使用して、システムのテスト構成を作成します。 |
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| テスト結果に基づいてDUTをビニングする | テスト結果に基づいてDUTを分類し、ビニング戦略を実装するさまざまな方法を説明します。 |
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| テストプログラムの実行を構成する | テスト開発環境でテストプログラムを構成および実行します。 |
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| テストレポートを生成する | NI TestStandで結果コレクションとテストレポート戦略を実装します。 |
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| テストプログラムのデバッグを行う | TestStandの標準機能を使用して、テストシーケンスの問題を特定し修正する。 |
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| デバッグシナリオを理解する | さまざまな予想外のシナリオでテストプログラムをデバッグします。 |
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| テスト時間のベンチマークを行う | コードの実行速度を制限する問題を特定して対処します。 |
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| テスタリソースを操作して問題のデバッグを行う | InstrumentStudioを使用してテスタリソースを操作し、テストの問題をデバッグします。 |
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| デバッグにDigital Pattern Editorを使用する | Digital Pattern Editor (DPE) 内のツールを使用して、テストの失敗をさらにデバッグします。 |
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| STSオペレータインタフェースでシーケンスを実行する | NI半導体テストオペレータインタフェース (OI) を使用してテストプログラムを実行し、実際のソケット時間を取得します。 |
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