本番テストシステムの開発、デプロイ、デバッグ、最適化、およびキャリブレーションを行うためのアプリケーションとドライバの包括的なスイートを提供します。システムバージョンの一貫性を維持しながら、テストプログラムの生成を合理化し、並列テストの効率を高め、オペレータインタフェースをカスタマイズします。
半導体テストシステム（STS）とは
STSは、RF、ミックスドシグナル、およびMEMS半導体デバイス向けに、コストを最適化したラボ品質テストを高速で実行するターンキーATEソリューションです。
半導体テストソリューションのメリット
ボリュームでのテストを最適化
スループットと再現性の向上
市場投入までの時間の短縮
機械的統合のシンプル化
アプリケーションに適した半導体テストシステム構成の選択
各NI STS構成には、拡張可能なピン数および設置面積の要件に対応する交換可能なデバイスインタフェースボードが搭載されており、超小型から大容量までの3つのモデルサイズがあります。
RF STS構成
統合アンテナモジュール、フィルタ、アンプなど、お客様のポートフォリオの生産テストニーズにRF ATEをカスタマイズします。
- アクティブおよびパッシブRFチップの最適化テスト
- 1 GHz解析帯域幅で品質を確保
- ワイヤレス規格への準拠を確認
ミックスドシグナルSTS構成
データ変換器、線形アナログコンポーネント、通信インタフェースなど、お客様のポートフォリオの生産テストニーズに合わせてミックスドシグナルATEを最適化します。
- 最適テスト用にハードウェアをカスタマイズ
範囲 - 測定ライブラリを使用してテストプログラミングを高速化
- オーディオ/高周波オプションでテストを強化
MEMS STS構成
センサやアクチュエータなど、ポートフォリオの製造テストニーズに合わせて微小電子機械システム (MEMS) ATEをカスタマイズします。
- 98%を超える並列テスト効率（PTE）を実現
- 拡張性のあるPXI ATEによる総コストの削減
- 高SNRテストのラボグレード確度を向上
当社の他の事業部門はすでにSTSを採用していました。「スループットの向上は、デバイスの出荷速度の向上、つまりビジネス上の成果につながります。
デビッド・リード
グローバルオペレーション担当上級副社長
NXP
包括的なソフトウェアで生産テストを高速化
STSソフトウェアバンドル
NI OptimalPlusグローバル解析
複数の製造およびエンタープライズデータソースからデータを収集、クリーンアップ、解析するAIベースの解析ソフトウェアを使用して、すべての製品ライフサイクルステージを最適化します。高度な解析により、製品のばらつきを最小限に抑え、歩留まりを向上させる方法をご紹介します。
STSのサービスとサポート
半導体テストアプリケーションの重要なアップタイム要件を満たすように設計された包括的なエンジニアリングサービスと特殊なハードウェアプログラムを提供します。これらのソリューションは、効率を最大化し、テスタのパフォーマンスを向上させ、システムの寿命を延ばします。 STSデプロイメントでは、お客様とともに、アプリケーションニーズに最適なサービスレベルを判断し、長期にわたる成功を実現します。
STS Partners
Explore NI Partners with vetted STS expertise who provide specialized support for semiconductor test system deployment and optimization.
- NI STS Electrical Interfacing Partners—These partners demonstrate experience in the design and development of Semiconductor ATE Device Interface Boards (DIBs) and Probe Interface Boards (PIBs)
- NI STS Test Program Development Level 2 Partners—Level 2 partners offer advanced semiconductor test services with extensive STS experience and in-house capabilities.
STSパートナー
半導体テストシステムの導入と最適化に特化したサポートを提供する、STSの専門知識を持つNIパートナーをご紹介します。
- NI STS 電気インタフェースパートナー―半導体ATE™デバイスインタフェースボード（DIB）およびプローブインタフェースボード（PIB）の設計および開発の経験を有するパートナー
- NI STSテストプログラム開発レベル2パートナー―レベル2パートナーは、STSの豊富な経験と社内能力を備えた高度な半導体テストサービスを提供します。
PXI計測器を表示
NI PXIデジタルパターン計測器
PXIデジタルパターン計測器は、業界標準のPXIプラットフォームにATEクラスのデジタル機能を提供します。 幅広いRFおよびミックスドシグナルICのテスト用に設計されています。
NI PXIベクトル信号トランシーバ
ベクトル信号トランシーバ (VST) は、ベクトル信号発生器、ベクトル信号アナライザ、およびユーザプログラマブルFPGAを1つのデバイスに統合した製品です。携帯電話のテスト、RFIC特性評価などのRF/ワイヤレスアプリケーションに使用します。