Tres F-35B Lightning IIs de VMFA-121 listos para despegar

Casos prácticos de electrónica

Descubra cómo los ingenieros aprovechan el hardware y el software de NI para validar y realizar de manera eficiente pruebas de producción de gran volumen de dispositivos electrónicos.

Validación

Programador de TI trabajando con LabVIEW en una PC de escritorio

Descubra cómo utilizar las soluciones de hardware y software de NI para acelerar el proceso de validación de dispositivos electrónicos, garantizando un menor tiempo de comercialización y una mayor eficiencia en las pruebas.

Landis+Gyr diseñó un sistema de framework de pruebas automatizadas para ejecutar pruebas funcionales para la validación de metrología de medidores inteligentes, reduciendo al mismo tiempo el tiempo y el costo del sistema de pruebas.

Opalum creó un sistema escalable de optimización de sonido para probar la calidad de sonido dentro de restricciones como dispositivos pequeños y estrictos requisitos de consumo energético.

Whirlpool desarrolló un sistema inteligente independiente para adquirir información y administrar los ciclos de las lavadoras con el fin de desarrollar una lavadora silenciosa.

Los investigadores construyeron un sistema de medición completamente automático para probar hasta 50 acopladores magnéticos simultáneamente mientras están sometidos a alto voltaje y temperatura.

Peratech diseñó e implementó un sistema seguro, automatizado y basado en datos para pruebas y monitoreo que puede utilizarse en cualquier instalación de fabricación de sensores de fuerza. 

SOCOMEC SA utilizó hardware de NI y OPAL-RT para crear una solución HIL de validación de hardware y software de alto rendimiento en tiempo real.

Los investigadores automatizaron los procesos de prueba de seguridad utilizando neumática para probar el funcionamiento mecánico y sensores para leer el estado del circuito eléctrico de un dispositivo.

Cypress Semiconductor Technology India Pvt. Ltd. desarrolló una plataforma tipo ATE llamada CyMatrix para reducir la caracterización en banco de productos de sistema en chip (SoC).

Prueba de producción

Ingeniero de aeronaves trabajando en el interior del avión 737

Aprenda cómo aprovechar las soluciones de prueba de fabricación de alto volumen de NI y los análisis avanzados para optimizar el rendimiento de los productos electrónicos, mejorar la calidad del producto, impulsar procesos de producción eficientes y reducir el costo total de propiedad.

Circuit Check Inc desarrolló un sistema de prueba automatizado modular y compatible con salas limpias para impresión industrial de inyección de tinta, capaz de probar simultáneamente seis cabezales de impresión.

Microsoft desarrolló un sistema de pruebas de producción de fin de línea y de bajo costo para controladores Xbox 360 con cable e inalámbricos con almacenamiento de datos en Microsoft SQL Server.

Philips desarrolló una plataforma estandarizada para satisfacer las necesidades de las estaciones de prueba y reducir los tiempos de desarrollo, manteniendo o aumentando la cobertura y calidad de las pruebas.

GN Audio estandarizó una plataforma de prueba de producción que utiliza productos CIM y NI COTS para reducir el tiempo de desarrollo de nuevas pruebas de meses a semanas.

Los investigadores crearon un robusto banco de pruebas en tiempo real para operar con robots y realizar pruebas y monitoreo conforme a las regulaciones de seguridad de máquinas robóticas.

Amfax desarrolló tecnología de inspección basada en medidas XYZ para ayudar a empresas a mejorar calidad de sus conjuntos PCB fabricados.

Los investigadores utilizaron tecnología NI SourceAdapt para hacer un probador LED cinco veces más rápido que otros compuestos por una unidad de medida de fuente (SMU) tradicional de rack y pila.

WKS Informatik creó un sistema de pruebas automatizado que reduce tiempos y costos, y proporciona información sobre el comportamiento de la ECU durante pruebas eléctricas para validación.

Panasonic desarrolló un sistema de pruebas definido por software para mejorar la calidad de Toughbook, reduciendo a la vez el tiempo de desarrollo de pruebas y el impacto ambiental.