WLR (Wafer-Level Reliability)

Le soluzioni di collaudo WLR (Wafer-Level Reliability) necessitano di essere realizzate in tempi rapidi senza sacrificare qualità e accuratezza di misura.

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NI Expertise

Dato che i produttori di IC continuano a introdurre nuovi processi innovativi, riducendo i volumi dei dispositivi, è necessario assicurarsi che la complessità di questi non influisca sull'affidabilità nel tempo degli IC. Poiché la tecnologia evolve molto rapidamente, i produttori di semiconduttori devono incrementare la quantità di dati affidabili che raccolgono e analizzano e allo stesso tempo diminuire i costi di test. Quando si deve affrontare il problema di dover gestire una quantità di dati maggiore e allo stesso tempo ridurre i costi, le soluzioni tradizionali spesso non sono affidabili ed è meglio scegliere soluzioni flessibili, modulari e in grado di fornire scalabilità.

Soluzioni in evidenza

Achieve a repeatable and precise test sequence for PMIC test with National Instruments Source Measure Units.
NI SMU Technology Improves Test Execution Compared to Traditional SMUs
The NI PXIe-4135 SMU has a measurement sensitivity of 10 femptoamps and voltage output up to 200 V.

Prodotti e Soluzioni

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NI Alliance Partner è una rete mondiale che include oltre 950 consulenti, integratori di sistema, sviluppatori e partner di NI che offrono soluzioni complete in diversi settori industriali e aree applicative. Dal prodotto finale all’integrazione di sistemi, dai servizi di consulenza e training, gli Alliance Partner di NI sono aziende di comprovata esperienza in grado di contribuire alla risoluzione dei progetti più impegnativi.

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PXI 101

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