WLR (Wafer-Level Reliability)

Le soluzioni di collaudo WLR (Wafer-Level Reliability) necessitano di sistemi di dimensioni ridotte senza sacrificare qualità e accuratezza di misura.

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Dato che i produttori di IC continuano a introdurre nuovi processi innovativi, riducendo i volumi dei dispositivi, è necessario assicurarsi che la complessità di questi non influisca sull'affidabilità nel tempo degli IC. Poiché la tecnologia evolve molto rapidamente, i produttori di semiconduttori devono incrementare la quantità di dati affidabili che raccolgono e analizzano e allo stesso tempo diminuire i costi di test. Quando si deve affrontare il problema di dover gestire una quantità di dati maggiore e allo stesso tempo ridurre i costi, le soluzioni tradizionali spesso non sono affidabili ed è meglio scegliere soluzioni flessibili, modulari e in grado di fornire scalabilità.

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