STS를 사용한 테스트 프로그램 개발 (.NET/C#) 교육과정 개요

STS를 사용한 테스트 프로그램 개발 교육과정에서는 테스트 대상 디바이스와 통신하기 위해 STS를 설정하고 사용하는 실습 교육을 제공합니다. 이 교육과정은 일반적인 작업 흐름 및 이정표를 따르며 여기에는 해당 하드웨어와의 긴밀한 상호 작용이 포함됩니다. 이 교육과정을 이수한 테스트 엔지니어는 대화식으로 STS 테스터 리소스를 통해 기존의 코드 모듈로 테스트 프로그램을 작성, 수정, 실행 및 디버깅하여, 테스트 데이터와 테스트 시간 리포트를 수집할 수 있습니다.

교육과정 세부사항:

STS를 사용한 테스트 프로그램 개발 (.NET/C#) 교육과정 아웃라인

강의 개요 토픽

STS 소개

반도체 테스트 시스템 (STS)의 주요 개념을 살펴봅니다.

  • STS 플랫폼 소개

테스트 헤드 살펴보기

STS 테스트 헤드의 상위 레벨 기능과 I/O를 살펴봅니다.

  • STS 테스트 헤드 개요
  • STS T1 M2 입출력 살펴보기

로드 보드 살펴보기

디바이스 인터페이스 보드 (DIB)의 상위 레벨 기능과 다양한 로드 보드 인터페이스 유형을 살펴봅니다.

  • 로드 보드 개요
  • 로드 보드 인터페이스 유형 살펴보기
  • DIB를 STS에 연결하기

STS와 도킹 및 연결하기

일반적인 테스트 셀의 토폴로지를 설명하고 STS를 도킹하는 여러 방법을 살펴봅니다.

  • NI STS 표준 도킹 및 연결하기
  • 자동 도킹 예

NI STS 소프트웨어 살펴보기

STS를 모니터링, 유지 보수, 디버깅 및 교정하는데 사용하는 소프트웨어를 살펴봅니다. STS용 테스트 개발 및 코드 모듈 개발 환경을 살펴봅니다.

  • STS 소프트웨어 개요
  • STS 유지 보수 소프트웨어 소개
  • 테스트 개발 환경 소개
  • 운영자 인터페이스 소개

테스트 개발자 작업 흐름 탐색하기

샘플 테스트 개발자 작업 흐름을 살펴보고 주요 단계를 설명합니다.

  • 샘플 테스트 개발자 작업 흐름 살펴보기

STS 안전 요구사항 및 스펙 조사하기

STS 시스템의 안전 요구사항 및 스펙, 안전 규정 준수 및 환경 스펙을 살펴보고 적용합니다.

  • STS의 안전 요구사항 살펴보기
  • STS의 안전 규정 준수하기
  • STS의 환경 스펙 살펴보기

테스터 계측 살펴보기

STS PXI 플랫폼 및 일반적인 STS 계측을 살펴봅니다.

  • NI PXI 플랫폼 살펴보기
  • STS 계측 식별하기
  • 추가 일반적인 STS 계측
  • 시뮬레이션 하드웨어 사용하기

시스템 스펙 살펴보기

STS T1, T2, T4 입출력 스펙을 살펴봅니다.

  • STS 시스템 스펙 살펴보기
  • 온라인으로 STS 스펙 살펴보기

STS 교정하기

STS 시스템에서 사용되는 교정 모듈과 교정 유형을 살펴봅니다.

  • 교정이란?
  • STS 교정 유형 탐색하기
  • STS에서 사용되는 교정 모듈 살펴보기
  • STS의 가동 준비 대기 시간 활성화하기
  • DC 연속성/기능 확인하기

STS 프로젝트 생성하기

테스트 프로그램을 생성하고 테스트 프로그램을 위해 생성된 시퀀스 파일 및 폴더 구조를 살펴봅니다.

  • 테스트 프로그램 실행하기
  • 폴더 구조 살펴보기
  • 테스트 프로그램 아키텍처 살펴보기

핀 맵 살펴보기

핀 맵의 목적과 STS 하드웨어를 DUT 핀에 매핑하는 핀 맵의 역할을 살펴봅니다.

  • 핀 맵이란?
  • 핀 맵에서 정보 탐색하기
  • 핀 맵 생성에 필요한 문서 토의

테스터 설정 및 로드 보드 회로도 검토하기

표준 테스터 문서, 내용 및 목적을 살펴봅니다.

  • DUT 스펙 살펴보기
  • 계측기에서 DUT까지 신호 추적하기

측정 요구사항 매핑하기

시스템과 장비된 계측기가 테스트 계획의 측정 요구사항을 충족할 수 있도록 측정 요구사항을 매핑합니다.

  • 측정 요구사항 매핑하기
  • 계측기를 DUT 핀에 연결하기
  • 테스트 계획을 기반으로 테스터 리소스 할당하기

DUT 핀을 계측기 채널에 매핑하기

핀 맵 편집기를 사용하여 DUT 핀을 계측기 채널에 맵핑하는 핀 맵 파일을 생성하고 수정합니다.

  • 핀 맵 편집기를 사용하여 계측기 추가 및 설정하기
  • 핀 맵 에러 및 경고 검토하기
  • 다중 계측기 세션 구성하기

디바이스 인터페이스 보드를 사용하여 DUT와 연결하기

계측기를 DIB에 연결하는 다양한 방법에 대해 설명하고 로드 보드를 설계하는데 사용할 수 있는 리소스를 식별합니다.

  • DIB를 계측기에 연결하는 방법은?
  • DIB를 설계하는 방법은?
  • DUT를 DIB에 연결하기

DUT 연속성 확인하기

디지털 패턴 계측기를 사용하여 다른 테스트를 실행하기 전에 DUT의 연속성을 테스트합니다.

  • 연속성 테스트란?
  • DUT의 연속성을 확인하기 위해 어떤 계측기를 사용합니까?
  • 연속성 테스트 수행하기

DUT 가동하기

디지털 패턴 편집기를 사용하여 테스트를 시작할 수 있도록 테스트 대상 디바이스 (DUT)를 가동합니다.

  • DUT의 전원 켜는 방법 결정하기
  • DUT 전원 가동하기

누출 전류 측정하기

다른 테스트를 실행하기 전에 디지털 패턴 계측기를 사용하여 DUT의 누출 전류를 측정합니다.

  • 가동 후 첫 번째로 실행되는 테스트는 무엇입니까?
  • 누출 전류 테스트 수행하기

DUT와의 통신 준비하기

디지털 프로젝트와 연관된 파일 타입을 확인하고 DUT와 통신하기 위해 디지털 패턴을 생성하기 전에 생성해야 하는 파일을 설명합니다.

  • 디지털 프로젝트의 내용 살펴보기
  • 스펙 시트 생성하기
  • 레벨 시트 생성하기
  • 타이밍 시트 생성하기

DUT와 통신하기 위한 기본 디지털 패턴 생성하기

디지털 패턴 편집기를 사용하여 기본 디지털 패턴을 생성, 편집, 로드 및 버스트하여 DUT와 통신합니다.

  • 벡터 기반 패턴 살펴보기
  • 디지털 패턴 생성하기

기존 디지털 패턴 변환하기

디지털 패턴 편집기에서 사용하기 위해 다른 환경에서 개발된 패턴을 변환합니다.

  • 기존 패턴 파일 변환하기
  • 데모: 기존 파일 변환하기

테스트 시퀀스 파일 살펴보기

테스트 시퀀스 파일의 주요 구성 요소와 각 구성 요소를 사용하는 방법을 살펴봅니다.

  • 시퀀스 파일의 구성 요소는 무엇입니까?
  • 시퀀스 파일 윈도우에서 구획 식별하기
  • 테스트 프로그램 아키텍처 살펴보기

테스트 시퀀스에 단계 추가하기

테스트 시퀀스에 단계를 삽입하는 방법에 대해 학습합니다.

  • 시퀀스에 단계 추가하기
  • 단계 유형 살펴보기
  • 단계 설정하기

테스트 단계 생성 및 설정하기

STS 프로젝트에서, 코드 모듈을 호출하는 테스트 단계를 생성하고 설정합니다.

  • 코드 모듈이란?
  • 반도체 테스트 단계의 시작점 선택하기
  • TSM 테스트 단계 템플릿 호출하기
  • 반도체 다중 테스트/작업 단계 호출하기
  • 테스트 단계 설정하기

테스트 단계 템플릿 사용하기

사용 가능한 다양한 단계 템플릿과 이를 테스트 시퀀스의 일부로 사용하는 방법을 설명합니다.

  • 단계 템플릿을 사용하여 테스트 시퀀스 생성하기

TestStand 실행 제어하기

테스트 시퀀스를 실행하고 테스트 조건이나 셋팅에 따라 다르게 실행되도록 테스트 시퀀스를 수정합니다.

  • 테스트 시퀀스 실행하기
  • 데이터 관리 및 공유하기
  • 흐름 제어 단계를 사용하여 실행 흐름 변경하기
  • 수식을 사용하여 데이터에 접근하거나 데이터를 수정하기
  • 테스트 실패에 따라 실행 변경하기

테스트 한계 설정하기

테스트 제한을 생성, 탐색 및 반입하여 다양한 시나리오에 대한 테스트 시퀀스를 신속하게 업데이트합니다.

  • 테스트 제한 반출하기
  • 테스트 제한 반입하기
  • 테스트 제한 파일 추가하기

테스트 설정 생성하기

테스트 프로그램 편집기와 테스트 요구사항을 사용하여 시스템의 테스트 설정을 생성합니다.

  • 테스트 설정 생성하기
  • 다중 테스트 흐름 정의하기

테스트 결과를 기반으로 DUT의 비닝을 수행

테스트 결과를 기반으로 DUT를 분류하고 비닝 전략을 구현하는 다양한 방법을 설명합니다.

  • ​비닝 개요
  • 빈 (Bin) 정의 파일 설정하기
  • 하드웨어 및 소프트웨어 빈 (Bin) 생성하기

테스트 프로그램 실행 설정하기

테스트 개발 환경에서 테스트 프로그램을 설정하고 실행합니다.

  • 스테이션 셋팅 설정하기
  • TestStand가 테스트 결과를 보고하는 방법 설정하기
  • 스테이션 옵션 설정하기
  • TestStand가 코드 모듈을 실행하는 방법 설정하기
  • 테스트 프로그램 실행하기

테스트 리포트 생성하기

TestStand에서 결과 집합 및 테스트 보고 전략을 구현합니다.

  • ​리포트 옵션 설정하기
  • 리포트 포맷 선택하기
  • ATML 리포트 생성하기
  • 테스트 결과 집합 설정하기

테스트 프로그램 디버깅하기

내장된 TestStand 기능을 사용하여 테스트 시퀀스의 문제를 식별하고 수정합니다.

  • 테스트 프로그램 실행 추적하기
  • 일시 정지하고 단계별로 실행하기
  • 실행 에러 처리하기

디버깅 시나리오 살펴보기

여러 예상치 못한 상황에서 테스트 프로그램을 디버그합니다.

  • ​디버깅 에러
  • 실패한 테스트 디버깅하기

테스트 시간 벤치마킹하기

코드 실행 속도를 제한하는 문제를 식별하고 해결합니다.

  • 테스트 시간 벤치마킹하기
  • TestStand 실행 속도 최적화하기
  • 하드웨어 실행 속도 최적화하기

테스터 리소스와 상호작용하여 문제 디버깅하기

InstrumentStudio를 사용하여 테스터 리소스와 상호작용하여 테스트 문제를 디버그합니다.

  • InstrumentStudio 개요
  • DC 전원 계측기 디버깅하기
  • 오실로스코프 디버깅하기
  • 드라이버 세션 디버깅하기
  • 여러 계측기 디버깅하기
  • 추가 분석을 위해 데이터 반출하기

 

디지털 패턴 편집기를 사용하여 디버깅하기

디지털 패턴 편집기 내의 도구를 사용하여 테스트 실패를 더 자세히 디버깅합니다.

  • DPE를 사용한 문제 해결 개요
  • 리얼타임으로 핀 상태 보기
  • 패턴 실행 디버깅하기
  • 디지털 스코프 디버깅하기
  • 파라미터 스윕을 기반으로 테스트 결과 분석하기

STS 운영자 인터페이스로 시퀀스 실행하기

NI 반도체 테스트 운영자 인터페이스 (OI)를 사용하여 테스트 프로그램을 실행하고 실제 소켓 시간을 얻습니다.

  • 운영자 인터페이스 개요
  • 로트 설정 및 실행하기
  • 테스트 결과 및 리포트 보기

지금 바로 STS를 사용한 테스트 프로그램 개발 (.NET/C#) 교육과정을 시작하세요