NI는 전 세계 고객의 요구에 부응하고자 다양한 언어가 지원되는 교육과정을 제공합니다. 강의실 및 온라인 교육과정 포맷의 경우, 예정된 온라인 및 강의실 교육과정을 살펴보면 강사가 사용할 언어와 슬라이드 및 매뉴얼과 같은 교육과정 자료에 사용할 언어를 확인하실 수 있습니다. 주문형 옵션은 학습 라이브러리를 방문해 각 교육과정에 제공되는 언어를 확인하십시오.
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The Device Testing with Digital Pattern Instruments Course helps you use PXI Digital Pattern Instruments and the Digital Pattern Editor to perform device tests, with a focus on device-under-test (DUT) communication, digital interface testing, and continuity and leakage testing. This course guides you through the complete test workflow, from calibration and debugging to extending tests into a test executive, as well as how to import a pattern into a test executive. You will learn how to create and edit all elements required to burst a digital pattern to your DUT, including pin maps, level sheets, timing sheets, and pattern files, Additionally, the course covers synchronization of digital pattern instrument with other instruments in your systems. At the end of this course, you will understand how to test DUT modes of operation with SPI commands and how to validate DUT communication, timing, and pin connections. The Device Testing with Digital Pattern Instruments Course is recommended for test engineers performing semiconductor device characterization and production tests.
주요 특징:
NI는 전 세계 고객의 요구에 부응하고자 다양한 언어가 지원되는 교육과정을 제공합니다. 강의실 및 온라인 교육과정 포맷의 경우, 예정된 온라인 및 강의실 교육과정을 살펴보면 강사가 사용할 언어와 슬라이드 및 매뉴얼과 같은 교육과정 자료에 사용할 언어를 확인하실 수 있습니다. 주문형 옵션은 학습 라이브러리를 방문해 각 교육과정에 제공되는 언어를 확인하십시오.