揮発に関する文書

揮発性に関する文書は、ハードウェアデバイスの揮発性および不揮発性メモリの位置をドキュメント化したものです。 この情報は、修理、再割り当て、または廃棄のためにデバイスを取り外した場合に、誤って他のユーザがデータを使用できないように保護するために必要です。 

 

NIの揮発性に関する文書は、以下のセクションから構成されています。

  • カバーモジュール ― 揮発性に関する文書でカバーされている製品バリエーション。 
  • 揮発性メモリ ― 電源を再投入したときに失われるデータを格納する場所。
  • 不揮発性メモリ ― 電源を再投入しても保持されるデータを格納する場所。 

 

メモリリストには、当該場所にバッテリバックアップがあるかどうか、ユーザがアクセスできるかどうか、およびシステムにアクセスできるかどうかが含まれます。リストには、各メモリ位置のクリア指示の説明も含まれています。クリア指示は、手順として文書化されています。手順としては、バックアップバッテリのプラグを抜くなどの物理的操作が考えられます。1つの手順は、データを消去するために使用できる一連の関数呼び出しです。

 

これらの場所にはさまざまなレベルのサニタイズがあることに留意してください。NISTはドキュメント「Guidelines for Media Sanitization, NIST 800-88」でサニタイズを定義しています。NIの揮発性に関する文書は、データをクリアする方法を提供します。デバイスによっては、より高度なサニタイズ技術やツールが必要な場合もあります。 

揮発に関する最新文書