エレクトロニクスユーザ事例

Landis+Gyrは、テストシステムの時間とコストを削減しつつ、スマートメーターの計測検証のための機能テストを実施する自動テストフレームワークシステムを設計しました。

Opalumは、小型デバイスや厳しい消費電力要件などの制約の中で音質を評価するためのスケーラブルな音響最適化システムを構築しました。

Whirlpoolは、静音洗濯機の開発を支援するため、情報取得と洗濯機サイクル管理を行うスタンドアロンのスマートシステムを構築しました。

研究者たちは、高電圧および高温環境下で最大50個の磁気カプラを同時にテスト可能な全自動測定システムを構築しました。

Peratechは、あらゆるフォースセンサ製造施設で利用可能な、安全で自動化されたデータ駆動型テストおよび監視システムを設計/実装しました。 

SOCOMEC SAは、NIハードウェアとOPAL-RTを組み合わせてリアルタイムで高性能なハードウェアおよびソフトウェアのHIL検証ソリューションを構築しました。

研究者たちは、空気圧による機械的動作のテストと、センサによるデバイス電気回路状態の計測を用いて、安全テストプロセスを自動化しました。

Cypress Semiconductor Technology India Pvt. Ltd.、Ltd.は、システムオンチップ (SoC) 製品のベンチ特性評価時間を短縮するために、「CyMatrix」と呼ばれるATE類似のプラットフォームを開発しました。

Circuit Check Inc.は、工業用インクジェット印刷向けに6基のプリントヘッドを同時にテスト可能なモジュール式でクリーンルーム対応の自動テストシステムを開発しました。

Microsoftでは、Microsoft SQL Serverへデータを格納することにより、Microsoft Xbox 360有線/無線コントローラ用の包括的な低コスト製造テストシステムを開発しました。

Philipsは、テストステーションのニーズに応えつつ、テストカバレッジと品質を維持および向上させながら開発スケジュールを短縮する標準化プラットフォームを開発しました。

GN Audioは、CIMとNI製COTS製品を活用する生産テストプラットフォームを標準化し、新規テスト開発期間を数ヶ月から数週間に短縮しました。

研究者たちは、ロボット操作およびロボット機械の安全規制に適合したテストと監視を実行する堅牢なリアルタイムテストベンチを構築しました。

AmfaxはXYZ測定に基づく検査技術を開発し、企業が製造するPCB組立品の品質向上を支援しました。

研究者たちはNIのカスタム過渡応答技術を活用して、従来のラック＆スタック型ソースメジャーユニット (SMU) より5倍高速なLEDテスタを開発しました。

WKS Informatikは、テスト時間とコストの削減を図り、検証用電気テスト中のECU挙動の洞察を提供する自動テストシステムを構築しました。

Panasonicは、Toughbookの品質改善とテスト開発期間および環境負荷の軽減を両立するソフトウェア定義テストシステムを開発しました。