RF IC Test with STS (.NET/C#) コースは、一般的な顧客のワークフローとマイルストーンに従います。ここでは、標準のSTS RFハードウェアの詳細な操作も扱います。このコースを修了すると、RFテスト開発者はSTS RFのリソースをインタラクティブに使用し、RF構成に基づいてテストプログラムを作成、変更、実行、デバッグできるようになります。
RF IC Test with STS (.NET/C#) コースをご購入いただくと、mmWave Test with STS (.NET/C#) コースにアクセスすることもできます。
コースの最終リリース日またはバージョン番号: 21.0
レッスン17回 | 5時間
標準のRF NI半導体テストシステム (STS) を使用または評価して、RF ICのテストを開発および実行する、半導体テスト開発者。
半導体テストの計画と方法に関する一般的な知識
Test Program Development with STS コース
Test Code Module Development with STS コース
STSソフトウェアバンドル
半導体テストシステム (STS)
STS RFサブシステムのコンポーネント、機能性、目的の理解
RF波形の作成
DUT RF動作の検証
標準RF構成のRFシステム校正の定義
RF ICのテストプログラムの作成
RF計測器APIの詳細
| レッスン | 概要 | トピック |
|---|---|---|
STS RFサブシステムの詳細 | STS RFサブシステムの各コンポーネント、機能、目的について説明します。 |
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ベクトル信号トランシーバ (VST) の詳細 | VSTの仕様とアーキテクチャについて説明します。 |
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RF校正ロードボードの詳細 | RF校正ロードボード (CLB) の目的と機能について説明します。 |
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STS RFデバッグパネルの詳細 | STS RFデバッグパネルの目的と機能について説明します。 |
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RF検査対象デバイス (DUT) の詳細 | このコースで使用するRF DUTの仕様と一般的なアプリケーションについて説明します。 |
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測定要件のマッピング | 測定要件をテスタ計測器にマッピングします。 |
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STSプロジェクトの作成 | サンプルのRFテストシーケンスを使用して新しいテストプログラムを作成し、そのコンポーネントを更新します。 |
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デバイスの表示 | デバイスを表示し、Digital Pattern Editor (DPE) とSTS RFデバッグパネルを使用して基本的なテストを実装します。 |
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RF校正の概要 | RFサブシステムのエラーの原因を特定し、RF校正コンポーネントを調べます。 |
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RFシステムの校正とユーザ定義の校正のユースケースの詳細 | RFシステムの校正とユーザ定義の校正の目的とユースケースについて説明します。また、両方の校正を実行します。 |
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ケーブルとトレースロスのディエンベディング | S2PのディエンベディングとRFロードボードの特性評価について説明し、S2P Cascade UtilityとSnP File Viewerの使用法について説明します。 |
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RF波形の作成 | NI-RFmx Waveform Creatorを使用してRF波形を作成する方法について説明します。 |
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TSM RF Stepsの概要 | TSM RF Stepsの目的と機能について説明します。 |
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FPGAサーボパラメータの詳細 | FPGAサーボパラメータの詳細とそれらを構成する方法について説明します。 |
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RFテストシーケンスの作成 | RF STSテストプログラムのシーケンス構造とコンポーネントについて説明します。 |
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テストプログラムの監視およびデバッグ | STS RFテストプログラムで実行時に測定結果を監視し、障害をデバッグする方法について説明します。 |
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NI-RFmx APIの詳細 | NI-RFmxの機能とAPIについて説明します。さまざまなNI-RFmx測定アプローチの利点について説明します。 |
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NI-RFPM APIの詳細 | NI-RFPMの機能と、そのAPIメソッドの機能について説明します。 |
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NI-RFSG APIの詳細 | NI-RFSGの機能と、そのAPIメソッドの機能について説明します。 |
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