ウエハレベル信頼性測定コースでは、Wafer Level Reliability Test Softwareを使用して半導体ウエハの信頼性を計測するための基礎を学びます。
このコースではオンライン形式のトレーニングは利用できません
このコースでは教室形式のトレーニングは利用できません
このコースではプライベート形式のクラスは利用できません
WLR Test Softwareを使用して、ストレステストとパラメトリックスイープを実行し、半導体ウエハの信頼性を計測する
オンデマンド: 2時間
半導体ウエハの信頼性をテストするためのターンキーソフトウェアソリューションを必要とするテストエンジニア
なし
WLR 22.5
パラメトリックテストシステム
オンデマンドトレーニングでは、NIラーニングセンターから配信されるデジタルコース教材を使用します。サブスクリプションの期間中はNIラーニングセンターにアクセスできます。
オンデマンド: ソフトウェアサブスクリプションおよびエンタープライズ契約、または5教育サービスクレジット、または2トレーニングクレジットを含む
| レッスン | 概要 | トピック |
|---|---|---|
ウエハレベル信頼性テストの概要 | このレッスンでは、ウエハレベル信頼性テストを対象としたNIのソリューションの目的について学習し、大規模なテストシステムへの統合をサポートする利用可能なリソースを確認します。 |
|
パラメトリックテストシステムのハードウェアを理解する | このレッスンでは、パラメトリックテストシステムのハードウェアコンポーネントについて学習します。 |
|
ウエハレベル信頼性テストソフトウェアを理解する | このレッスンでは、ウエハレベル信頼性テストソフトウェアの一部としてインストールされているソフトウェアコンポーネントについて学習します。 |
|
DUTに接続する | このレッスンでは、ウエハの定義方法、ウエハ上でテストするDUTの特定方法、およびSMUチャンネルをDUTにマッピングする方法について学習します。 |
|
補正を実行する | このレッスンでは、正確なテスト結果を確保するために、WLRテストを実行する前にSMUを補正する方法について学習します。 |
|
TDDBテストを実行する | このレッスンでは、WLRテストソフトフロントパネルを使用して、TDDBテストを実行し、結果を確認する方法について学習します。 |
|
HCI/BTIテストを実行する | このレッスンでは、WLRテストソフトフロントパネルを使用して、HCI/BTIテストを実行し、結果を確認する方法について学習します。 |
|
WLRテストシーケンスの上級オプションを構成する | このレッスンでは、さまざまなWLRテストのニーズに対応するようにテストシーケンスを構成するためのオプションについて学習します。 |
|
テストの実行をカスタマイズする | このレッスンでは、カスタムテストステップをテストの実行に追加して、テストフローを変更する方法について学習します。 |
|
一般的な問題のトラブルシューティング | このレッスンでは、システム構成、システム操作、テスト実行で発生する一般的な問題をデバッグおよびトラブルシューティングする方法について学習します。 |
|
1年以内にNI講師主導のコースを3つ以上受講する予定の方であれば、トレーニングメンバーシップから、すべてのNIの一般教室およびオンライン形式のコースを手頃な料金で無制限に受けられるほか、無制限の認定資格証も受けられます。