Device Testing with Digital Pattern Instruments コースにより、テストおよび検証を担当するエンジニアは、デジタルパターン計測器を使用して、半導体デバイスの特性評価および製造テストを行ことができるようになります。このコースでは、デジタルパターン計測器とDigital Pattern Editorを活用した、一般的なデバイステストの実行方法を重点的に学習します。ここでは、DUT通信、デジタルインタフェーステスト、および導通テストと漏れテストに着目します。このコースでは、キャリブレーションとデバッグから、テストエグゼクティブへのテスト拡張まで、完全なテストワークフローについて、受講者に説明します。
オンデマンド (4時間)
半導体デバイスの特性評価と製造テストを実行するテストエンジニア
なし
NI PXIeデジタルパターン計測器
NI Digital Pattern Editor
ピンマップ、レベルシート、タイミングシート、パターンファイルなど、デジタルパターンをDUTにバーストするために必要なすべての要素を作成し、編集する
SPIコマンドを使用してDUTの操作モードをテストする
レジスタリードバックテストによってDUT通信を検証する
外部テスト装置と接続してDUTタイミングを検証する
導通テストと漏れテストによってDUTピン接続を検証する
オペコードを利用してパターン内のフロー制御を確立する
ソース波形やキャプチャ波形を使用して、パターンを簡素化しデータを保存する
デジタルパターン計測器をシステム内の他の計測器と同期する
履歴RAMレポート、Shmooプロット、デジタルスコープを使用して、デバッグアクティビティを実行する
計測器をキャリブレートしてケーブルスキューを補正する。
| レッスン | 概要 | トピック |
|---|---|---|
| 第1パターンの作成とバースト | ピンマップ、レベルシート、タイミングシート、パターンファイルを構成し、デジタルパターンを検査対象デバイス (DUT) にバーストします。 |
|
| ピンマップの作成 | Digital Pattern Editorでピンマップを作成し、DUT接続サイトを定義します。 |
|
| 仕様シートの作成 | DUTのデータシートからの値を仕様シートの変数に保存します。 |
|
| ピンレベルシートの作成 | ピンレベルシートを作成し、供給電圧、終端、DUTの論理レベルを定義します。 |
|
| タイミングシートの作成 | タイミングシートを作成し、DUTとのインタフェースのタイミング特性を定義します。 |
|
| パターンファイルの作成 | パターンファイルを作成し、DUTとの通信とテストを行います。 |
|
| LabVIEWでのデジタルパターンのプログラミング | NI-Digital Pattern APIを使用して、デジタルパターン計測器をプログラムで制御します。 |
|
| DUTの操作モードのテスト | SPI (Serial Peripheral Interface) コマンドを使用してDUTを構成し、DUTの操作モードをテストします。 |
|
| レジスタリードバックテストの実行 | レジスタリードバックテストを実行して、DUTの通信機能を検証します。 |
|
| DUTタイミングの検証 | 外部テスト装置と接続して、DUTタイミングを検証します。 |
|
| 導通テストと漏れテストの実行 | 導通テストと漏れテストを実行して、DUTピン接続を検証します。 |
|
フロー制御によるパターンの堅牢性の強化
|
フロー制御を確立するためのオペコードを使用して、パターンの堅牢性を強化します。
|
|
ソース波形の使用
|
シリアルとパラレルのソース波形を使用して、変数データを持つパターン構造を簡素化します。
|
|
キャプチャ波形の使用
|
キャプチャ波形を使用して、検証や後処理用に受信したデータを保存します。
|
|
履歴RAMレポートでのテスト結果の確認
|
履歴RAMレポートの結果を使用して、パターンや検査対象デバイス (DUT) をデバッグします。
|
|
デジタルスコープを使用して信号を表示する
|
デジタルスコープを使用し、デジタルパターン計測器 (PXIe-657x) のPINについて実際の電圧レベルを表示します。
|
|
Shmooプロットを使用したパラメータの関係の視覚化
|
Shmooプロットを使用して、パターンパラメータを反復処理し、その結果を表示します。
|
|
その他の計測器との同期
|
トリガの共有や、NI-TClkを使用した他の計測器とのタスクの調整といった同期方法を実装します。
|
|
配線とキャリブレーション
|
ケーブルスキューと電圧オフセットを補正し、デバイスのキャリブレーション要件を調べます。
|
|
スキャンテスト用のオペコードの使用
|
スキャンオペコードを使用して、ベクトルを1つ以上のスキャンサイクルに分割します。
|
|