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PXIe‑6571は、半導体の特性評価と製造テストに最適です。ピンマップ、仕様、レベル、タイミング、およびパターンを構成するためのDigital Pattern Editorが付属しています。また、Shmooプロットやデジタルスコープ、履歴RAM、ピン状態、システムステータスのビューアといったデバッグツールも装備されています。PXIe-6571には、PXIe-1095のようなスロット冷却能力が82 Wのシャーシが必要です。
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