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NI PXIe‑2515は、テスト対象デバイス(DUT)とNI高速DIOデバイスまたはパラメトリック測定デバイスの間に挿入して使用し、高速デジタルI/O(DIO)信号を両デバイス間で経路設定することができる、マルチプレクサスイッチモジュールです。 PXIソースメジャーユニット(SMU)やPXIデジタルマルチメータ(DMM)などのモジュールを、高速デジタルデバイスとともに使用できます。 NI PXIe‑2515を使用すれば、外部接続を行ったり、インピーダンス不整合を起こしたりすることなく、デジタルピン上でパラメトリックテストを実行することができます。
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