PXI信号挿入スイッチモジュール

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HIL(Hardware-in-the-loop)テストや電子装置信頼性テスト用に、開放、ピン間、バッテリに対する短絡、グランドに対する短絡といった不具合をシミュレートします。

PXI信号挿入スイッチモジュールは、欠陥生成ユニット(FIU)としても知られています。フィードスルーチャンネルのセットが備わっており、このチャンネルを閉じると、スイッチがシステムに対して透過的(短絡)になります。これらのチャンネルを2つの欠陥バスの1つに開放または短絡させると、開放または割り込み接続をシミュレートできます。例えば、開放、ピン間の短絡、バッテリへの短絡、グランドへの短絡がシミュレートできます。LabVIEW Real-Timeモジュールで制御すると、エンジン制御ユニット(ECU)、全自動デジタルエンジン制御(FADEC)などの制御システムの整合性を検証するのに最適なソリューションとなります。このFIUモデルは、HIL(Hardware-in-the-loop)アプリケーションや電子装置信頼性テストで使用することもできます。

価格に消費税は含まれていません。