Simulazione Hardware-in-the-Loop (HIL)

Le applicazioni di test del settore aerospazio e difesa spesso sono difficili da realizzare a causa di costi molto elevati o di requisiti complessi per la sicurezza. La simulazione HIL (Hardware-in-the-Loop) permette di effettuare il test di tecnologie embedded come computer a singola scheda e chassis elettronici.

Media Feature

NI Expertise

Il test e la riparazione di sistemi ISR (Intelligence, Surveillance and Reconnaissance) nel settore aerospazio e difesa comportano costi elevati e necessitano di molto tempo. Per ridurre i costi e assicurare l’affidabilità dei sistemi, gli ingegneri utilizzano la simulazione HIL per il test virtuale dei sistemi embedded, evitando così l’utilizzo di sistemi di test più complessi e costosi. Ciò aiuta a mantenere l'affidabilità dei sistemi ISR e a soddisfare le esigenze di time-to-market senza impiegare troppe risorse. NI offre piattaforme software flessibili e hardware modulare in grado di supportare un'ampia gamma di applicazioni di test e che ti permettono di utilizzare lo stesso hardware e software non solo per lo sviluppo di applicazioni RF, di signal intelligence o SDR (Software Defined Radio), ma anche per sistemi avionici molto complessi.

Soluzioni in evidenza

Categorical Image
Categorical Image
Categorical Image

Prodotti e Soluzioni

Higlight Image

NI Alliance Partner Network

NI Alliance Partner è una rete mondiale che include oltre 950 consulenti, integratori di sistema, sviluppatori e partner di NI che offrono soluzioni complete in diversi settori industriali e aree applicative. Dal prodotto finale all’integrazione di sistemi, dai servizi di consulenza e training, gli Alliance Partner di NI sono aziende di comprovata esperienza in grado di contribuire alla risoluzione dei progetti più impegnativi.

Application Resource Kit


Hardware-in-the-Loop Resource Kit

Questo resource kit include tutorial tecnici per applicazioni HIL. Scopri le architetture di sistema di test HIL, come scegliere le interfacce I/O per un sistema di test HIL e l'utilizzo di FIU (Fault Insertion Units) per il test elettronico.