Test de circuits intégrés de gestion d'alimentation (PMIC)

Les ingénieurs doivent élaborer des solutions de test PMIC capables de satisfaire les futures exigences techniques, tout en réduisant les coûts globaux.

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Aperçu du savoir-faire NI

Les avancées technologiques dans le secteur du semi-conducteur appellent sans cesse de nouveaux équipements de test autonomes et souvent onéreux qui, à leur tour, deviennent rapidement obsolètes. Alors que les entreprises s'efforcent de réduire le coût, la taille et l'encombrement des systèmes de test PMIC, elles rencontrent de plus en plus de difficultés à trouver une solution idéale. Les systèmes sur PXI proposés par NI incluent des unités de source et mesure (SMU) hautes performances, des oscilloscopes, des générateurs de signaux arbitraires et des instruments numériques conçus pour s'adapter à une gamme étendue de mesures AC et DC en phase de la validation, de caractérisation et des tests en production de PMIC. La flexibilité offerte par les solutions modulaires sur PXI permet aux ingénieurs de mettre à niveau des composants matériels et logiciels spécifiques afin de répondre aux prochaines exigences sans avoir à remplacer l'intégralité de leurs systèmes.

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Initiation au PXI

Cette ressources inclut les principes fondamentaux de la plate-forme PXI pour le test automatique.