半導體檢驗測試

完整的半導體系統

參閱以 PXI 模組化儀器為基礎的彈性開路/短路檢驗系統範例，或設定自己所需的系統規格。

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半導體測試系統獨立元件

核心元件

可程式化電源與電源量測單位 (SMU)

• 4 個象限的精確源極 (Sourcing)
• 最低 1 nA 與 100 µV 的量測解析度
• 源極 (Sourcing) 最高 40 W、汲極 (Sinking) 最高 10 W

高密度矩陣切換器

• 最高 544 個交點 (Crosspoint)
• FET 繼電器具有極長的使用壽命
• 最高可達每秒 50,000 個週期

高速數位 I/O

• 最高 200 MHz 時脈
• 波形的進階時脈、觸發，與指令碼
• 每週期方向控制與硬體資料比較

特定元件

混合訊號儀器

• 高速示波器
• 任意波形產生器
• 動態訊號分析

RF 儀器

• 最高 6.6 GHz 的擷取與產生
• 最高 20 MHz 即時頻寬
• 彈性軟體 - NI 調變與頻譜量測 (Modulation and Spectral Measurements) 工具組