디지털 패턴 계측기를 사용한 디바이스 테스트 교육과정을 통해 테스트 및 검증 엔지니어는 디지털 패턴 계측기를 사용하여 반도체 디바이스의 특성화 및 생산 테스트를 수행할 수 있습니다. 이 교육과정은 DUT 통신, 디지털 인터페이스 테스트, 연속성 및 누설 테스트를 중심으로 디지털 패턴 계측기와 디지털 패턴 편집기를 활용하여 일반적인 디바이스 테스트를 수행하는 방법에 중점을 둡니다. 이 교육과정은 교정 및 디버깅에서 테스트를 테스트 실행으로 확장하는 것에 이르기까지 전체 테스트 작업 흐름을 통해 학습자를 안내합니다.
온디맨드, 4시간
반도체 디바이스의 특성화 및 양산 테스트를 수행하는 테스트 엔지니어
없음
NI PXIe 디지털 패턴 계측기
NI 디지털 패턴 편집기
핀 맵, 레벨 시트, 타이밍 시트 및 패턴 파일을 포함하여 디지털 패턴을 DUT로 버스트하는데 필요한 모든 요소를 만들고 편집하기
SPI 명령으로 DUT 작동 모드 테스트
레지스터 리드백 테스트를 통해 DUT 통신 검증
외부 테스트 장비와의 인터페이스를 통해 DUT 타이밍 검증
연속성 및 누설 테스트를 통해 DUT 핀 연결 검증
Opcode를 활용하여 패턴 내에서 흐름 제어 설정
소스를 사용하고 웨이브폼을 캡처하여 패턴 구조를 단순화하고 데이터를 저장
디지털 패턴 계측기를 시스템의 다른 장치와 동기화
히스토리 RAM 보고서, Shmoo 플롯 및 디지털 스코프를 사용하여 디버깅 활동 수행
장치를 보정하고 케이블 왜곡을 수정
| 강의 | 개요 | 토픽 |
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| 첫 디지털 패턴 생성 및 버스트하기 | 핀 맵, 레벨 시트, 타이밍 시트 및 패턴 파일을 구성하여 테스트 대상 장치(DUT)에 디지털 패턴을 버스트합니다. |
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| 핀 맵 생성하기 | 디지털 패턴 편집기에서 핀 맵을 생성하여 DUT 연결 사이트를 정의합니다. |
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| 스펙 시트 생성하기 | DUT 데이터 시트의 값을 스펙 시트 변수에 저장합니다. |
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| 핀 레벨 시트 생성하기 | 핀 레벨 시트를 생성하여 DUT의 공급 전압, 종단 및 로직 레벨을 정의합니다. |
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| 타이밍 시트 생성하기 | 타이밍 시트를 생성하여 DUT와 인터페이스하는 타이밍 특성을 정의합니다. |
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| 패턴 파일 생성하기 | DUT와 통신하고 테스트하기 위한 패턴 파일을 생성합니다. |
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| LabVIEW에서 디지털 패턴 프로그램하기 | NI 디지털 패턴 API를 사용하여 프로그램적으로 디지털 패턴 계측기 제어하기. |
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| DUT 작동 모드 테스트하기 | 시리얼 주변 장치 인터페이스 (SPI) 명령으로 DUT를 설정하여 작동 모드를 테스트합니다. |
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| 레지스터 리드백 테스트 수행하기 | DUT의 통신 기능을 검증하기 위해 레지스터 리드백 테스트를 수행합니다. |
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| DUT 타이밍 검증하기 | 외부 테스트 장비와의 인터페이스를 통해 DUT 타이밍을 검증합니다. |
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| 연속성 및 누출 테스트 수행하기 | 연속성 및 누설 테스트를 통해 DUT 핀 연결 검증하기 |
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흐름 제어로 패턴 견고성 향상하기
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연산 코드로 흐름을 제어하여 패턴의 견고성을 높입니다.
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소스 웨이브폼 사용하기
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시리얼 및 병렬 소스 웨이브폼을 사용하여 변수 데이터로 패턴 구조를 단순화합니다.
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캡처 웨이브폼 사용하기
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캡처 웨이브폼을 사용하여 검증 및 후처리를 위해 수신된 데이터를 저장합니다.
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램 이력 리포트를 사용하여 테스트 결과 검토하기
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램 이력 리포트의 결과를 사용하여 패턴 또는 테스트 대상 디바이스 (DUT)를 디버그합니다.
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디지털 스코프로 신호 보기
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디지털 스코프를 사용하여 디지털 패턴 계측기 (PXIe-657x) 핀의 실제 전압 레벨을 확인합니다.
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Shmoo 플롯을 사용하여 파라미터 관계 시각화하기
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Shmoo 플롯을 사용하여 패턴 파라미터를 반복 분석하고 결과를 확인합니다.
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다른 계측기와 동기화하기
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트리거 공유 또는 NI-TClk와 같은 동기화 전략을 구현하여 작업을 다른 계측기와 동기화합니다.
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배선 및 교정
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케이블 스큐와 전압 오프셋을 보정하고 디바이스 교정 요구사항을 살펴봅니다.
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스캔 테스트 연산 코드 사용하기
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스캔 연산 코드로 벡터를 하나 이상의 스캔 사이클로 나눕니다.
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