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PXIe-4190은 전자 장비의 인덕턴스, 커패시턴스, 저항(LCR)을 측정하고 테스트할 수 있게 돕습니다. fF 클래스 커패시턴스 측정이 가능한 LCR 미터와 fA 클래스 전류 측정이 가능한 정밀 소스 측정 유닛 (SMU)이 포함되어 있습니다. PXIe-4190 미터는 통합 수동 디바이스 (IPD), 마이크로전자 기계 시스템 (MEM), 다중 계층 세라믹 커패시터 (MLCC), 파라미터형 테스트 등의 반도체 어플리케이션을 위한 커패시턴스-전압/전류-전압 (CV/IV) 자동 테스트 시스템에서 사용할 수 있습니다. 또한 PXIe-4190은 LabVIEW, C, C# .NET, Python 및 기타 프로그래밍 언어용 API를 포함하는 NI-DCPower 인스트루먼트 드라이버를 지원합니다.
수리를 요청하거나, 교정을 예약하거나, 기술 지원을 받을 수 있습니다. 유효한 서비스 계약이 필요할 수 있습니다.
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