台式测量和测试
分布式测量与控制
高性能测试
系统工程软件
趋势瞭望呈现NI对测试和技术领域的未来展望。
您可以申请维修、接受服务、安排校准或获得技术支持。但可能需要有效的服务协议。
为NI数据采集和信号调理设备提供支持。
为以太网、GPIB、串行、USB和其他类型的仪器提供支持。
为NI GPIB控制器和带有GPIB端口的NI嵌入式控制器提供支持。
1 GHz, 2 GS/s, 8位PXI示波器—PXI‑5154是高速、纳秒级边沿采集与特性分析的理想选择, 适用于消费电子产品、半导体、太空/国防和生命科学行业中的自动化测试和数据读写应用。 PXI‑5154还配有每通道高达256 MB的内存,通过扩展的数据捕获窗口(capture window)提供持续的高速采样率。 这款数字化仪针对自动测试进行了优化,使用高吞吐量总线来缩短测试时间,提供了模块之间的皮秒级同步,并与整套NI硬件集成,帮助您轻松构建和自定义完整的混合信号或高通道数测试系统。
查看全面的产品文档,了解产品入门指南和操作规范。
查看由我们的支持工程师撰写的文章,帮助您对问题进行故障分析和完成常见任务。
了解如何连接和配置硬件以进行首次测量。
请告诉我们您的需求,我们将助您一臂之力。
谢谢
我们将尽快与您联系!