Présentation du cours Développement de programmes de test avec STS

Le cours Développement de programmes de test avec STS offre une formation pratique à la configuration et à l’utilisation d’un système de test de semi-conducteurs (STS) pour communiquer avec un matériel sous test (DUT). Le cours suit le flux de travail et les jalons typiques de test de semi-conducteur, ce qui comprend une interaction étroite avec le matériel correspondant. Après avoir terminé ce cours, un ingénieur de test sera capable d’utiliser les ressources du testeur STS de manière interactive pour créer, modifier, exécuter et mettre au point des programmes de test avec des modules de code préexistants (développés à l’aide de LabVIEW ou .NET/C#) afin de collecter des données de test et des rapports de temps de test.

Date de la dernière version du cours ou numéro de version : Sur demande : 23.0

ACHETER LE COURS

Détails du cours :

Durée

Sur demande : 5 heures

Public

Ingénieurs de test de semi-conducteur utilisant ou évaluant le système de test de semi-conducteurs (STS) de NI pour effectuer un test en production de semi-conducteurs ou une validation de dispositif automatisé à gros volume.

Pré-requis

Connaissances générales des stratégies et méthodes de test de semi-conducteurs
Compétences générales en informatique
Connaissances de base en ingénierie de test

Produits NI utilisés

STS Software Bundle
Système de test de semi-conducteurs (STS)

Ressources pédagogiques

La formation virtuelle dispensée par un instructeur comprend les supports didactiques numériques fournis via le Centre d’apprentissage NI.
La formation virtuelle NI est dispensée par un instructeur via Zoom. De plus, un accès à Amazon AppStream/LogMein est fourni aux participants pour effectuer les exercices sur des machines virtuelles équipées des tout derniers logiciels.

Objectifs de la formation

Mettre en place et configurer un STS pour tester un dispositif semi-conducteur à signaux mixtes
Communiquer avec un DUT.
Utiliser les ressources de test STS pour créer, modifier, exécuter et mettre au point un programme de test de manière interactive à l’aide de modules de code pré-écrits
Décrire l’architecture du programme de test, la modifier et configurer le flux d’exécution.
Mettre au point des dispositifs, des signaux et des séquences de test avec des interfaces de mise au point
Collecter des données de test et générer des rapports de test
Réaliser une analyse comparative des durées de test

Descriptif du cours Développement de programmes de test avec STS

Leçon	Présentation	Thèmes
Introduction au STS	Explorez les principaux concepts du système de test de semi-conducteurs (STS).	Introduction à la plate-forme STS
Exploration de la tête de test	Explorez les fonctionnalités et les E/S de haut niveau pour la tête d’essai STS.	Présentation de la tête d’essai STS Exploration des entrées et sorties STS T1 M2
Exploration des cartes d’interface	Explorez les fonctionnalités de haut niveau de la carte d’interface de périphérique (DIB) et les différents types d’interface de la carte d’interface.	Présentation des cartes d’interface Exploration des types d’interface de la carte d’interface Connexion d’un DIB au STS
Ancrage et interfaçage avec le STS	Décrivez la topologie d’un banc d’essai typique et explorez plusieurs options pour l’ancrage d’un STS.	Ancrage et interfaçage standard avec le STS de NI Exemple d’ancrage automatisé
Exploration du logiciel STS NI	Découvrez les outils logiciels permettant surveiller, maintenir, mettre au point et étalonner le STS ainsi que l’environnement de développement de test et de module de code pour le STS.	Présentation du logiciel STS Introduction au logiciel STS Maintenance Software Introduction à l’environnement de développement de test Introduction à l’interface opérateur
Navigation dans le flux de travail du développeur de tests	Explorez un exemple de flux de travail de développeur de tests et ses étapes clés.	Exploration d’un exemple de flux de travail de développeur de tests
Étude sur les exigences et les spécifications de sécurité du système STS	Explorez et appliquez les exigences et les spécifications de sécurité, la conformité en matière de sécurité et les spécifications environnementales du système STS.	Exploration des exigences de sécurité du STS Garantir la conformité en matière de sécurité pour le STS Exploration des spécifications environnementales du STS
Exploration de l’instrumentation des testeurs	Explorez la plate-forme PXI STS et l’instrumentation STS commune.	Exploration de la plate-forme PXI NI Identifier l’instrumentation STS Instrumentation STS commune supplémentaire Utilisation de matériel simulé
Explorer les spécifications du système	Explorez les spécifications d’entrée et de sortie STS T1, T2 et T4.	Explorer les spécifications du système STS Explorer les spécifications STS en ligne
Étalonnage d’un système STS	Explorez les modules d’étalonnage et les types d’étalonnage utilisés dans le système STS.	Qu’est-ce que l’étalonnage ? Explorer les types d’étalonnage STS Explorer les modules d’étalonnage utilisés dans STS Activation du temps d’attente de préchauffage du STS Vérification de la continuité/fonctionnalité CC
Création d’un projet STS	Créez un programme de test et explorez le fichier de séquence et la structure de dossiers créés pour le programme de test.	Création d’un programme de test Explorer la structure des dossiers Explorer l’architecture du programme de test
Explorer les cartes de brochage	Découvrez l’objectif de la carte de brochage et son rôle dans le mappage du matériel STS vers les broches DUT.	Qu’est-ce qu’une carte de brochage ? Exploration des informations contenues dans une carte de brochage Documentation nécessaire pour créer une carte de brochage
Examen de la configuration de test et du schéma de la carte d’interface	Explorez la documentation standard du testeur, son contenu et son objectif.	Exploration des spécifications du DUT Suivi d’un signal de l’instrument vers le DUT
Mappage des exigences de mesure	Mappez les exigences de mesure pour vous assurer que le système et les instruments dont il est équipé peuvent répondre aux exigences de mesure du plan de test.	Mappage des exigences de mesure Connexion de l’instrumentation aux broches DUT Affectation des ressources du testeur en fonction d’un plan de test
Mappage des broches DUT aux voies de l’instrument	Utilisez l’éditeur de carte de brochage pour créer et modifier des fichiers de cartes de brochages DUT aux voies de l’instrument.	Ajout et configuration d’un instrument à l’aide de l’éditeur de carte de brochage Examen des erreurs et avertissements de la carte de brochage Configuration de sessions multi-instruments
Interfaçage avec le DUT à l’aide de la carte d’interface de périphérique	Explorez les différentes manières de connecter vos instruments à une carte d’interface de périphérique (DIB) et identifiez les ressources disponibles pour vous aider à concevoir votre propre carte d’interface.	Comment connecter ma DIB à mes instruments ? Comment concevoir ma DIB ? Interfaçage du DUT à la DIB
Vérification de la continuité du DUT	Utilisez l’instrument de patterns numériques pour tester la continuité du DUT avant d’exécuter d’autres tests.	Qu’est-ce qu’un test de continuité ? Quel instrument dois-je utiliser pour vérifier la continuité du DUT ? Exécution d’un test de continuité
Mise en place du DUT	Utilisez l’éditeur de patterns numériques pour afficher le matériel sous test (DUT) afin que vous puissiez commencer à le tester.	Détermination de la méthode de mise sous tension du DUT Mise sous tension du DUT
Mesure du courant de fuite	Utilisez l’instrument de patterns numériques pour mesurer le courant de fuite du DUT avant d’exécuter d’autres tests.	Quel est le premier test à effectuer après la mise en place ? Exécution d’un test de courant de fuite
Préparation de la communication avec le DUT	Identifiez les types de fichiers associés à un projet numérique et décrivez les fichiers qui doivent être créés avant de créer un pattern numérique pour communiquer avec le DUT.	Exploration du contenu d’un projet numérique Création de fiches techniques Création de feuilles de niveaux Création de feuilles de temps
Création de patterns numériques de base pour communiquer avec le DUT	Créez, éditez, chargez et émettez en rafale des patterns numériques de base pour communiquer avec le DUT à l’aide de l’éditeur de patterns numériques.	Exploration des patterns vectoriels Création de patterns numériques
Conversion de patterns numériques existants	Convertissez des patterns développés dans d’autres environnements pour les utiliser dans l’éditeur de patterns numériques.	Conversion de fichiers de patterns existants
Exploration du fichier de séquence de test	Explorez les principaux composants d’un fichier de séquence de test et apprenez à utiliser chaque composant.	Quelles sont les composants d’un fichier de séquence de test ? Identification des panneaux de la fenêtre du fichier de séquence de test Exploration de l’architecture du programme de test
Ajout d’étapes à une séquence de test	Découvrez comment insérer des étapes dans une séquence de test.	Ajout d’une étape à une séquence de test Exploration des types d’étapes de test Configuration d’une étape
Création et configuration d’étapes de test	Dans un projet STS, créez et configurez des étapes de test qui appellent des modules de code.	Qu’est-ce qu’un module de code ? Choix d’un point de départ pour les étapes de test de semi-conducteurs Appel d’un modèle d’étape de test TSM Appel d’une étape de test/d’action multiple de semi-conducteurs Configuration des paramètres d’étapes de test
Utilisation des modèles d’étapes de test	Explorez les différents modèles d’étapes disponibles et découvrez comment les utiliser dans le cadre d’une séquence de test.	Création d’une séquence de test à l’aide de modèles d’étapes
Contrôle de l’exécution TestStand	Exécutez une séquence de test et modifiez-la pour qu’elle s’exécute différemment en fonction des conditions ou des paramètres de test.	Exécution d’une séquence de test Gestion et partage des données Utilisation des étapes de contrôle de flux pour modifier le flux d’exécution Utilisation d’expressions pour accéder aux données ou les modifier Modification de l’exécution en fonction de l’échec d’un test
Définition des limites de test	Créez, explorez et importez des limites de test afin de mettre à jour rapidement vos séquences de test pour différents scénarios.	Exportation de vos limites de test Importation de vos limites de test Ajout de vos fichiers de limites de test
Création de configurations de test	Utilisez l’éditeur de programmes de test et vos exigences de test afin de créer des configurations de test pour votre système.	Création de configurations de test Définition de plusieurs flux de test
Création d’intervalles pour les DUT en fonction des résultats de test	Décrivez les différentes méthodes de classement des DUT en fonction des résultats de test et comment mettre en œuvre une stratégie de binning.	Présentation du binning Configuration du fichier de définition des intervalles Création d’intervalles pour les matériels et les logiciels
Configuration de l’exécution d’un programme de test	Configurez et exécutez un programme de test dans l’environnement de développement de test	Configuration des paramètres de la station Configuration des méthodes de génération de rapport TestStand pour les résultats de test Configuration des options de la station Configuration des méthodes d’exécution de TestStand pour vos modules de code Exécution de votre programme de test
Génération de rapports de test	Mettez en œuvre une stratégie de collecte des résultats de test et de génération de rapports dans TestStand.	Configuration des options de rapport Sélection d’un format de rapport Génération d’un rapport ATML Configuration de la collecte des résultats de test
Mise au point d’un programme de test	Utilisez les fonctionnalités intégrées de TestStand pour identifier et corriger les problèmes dans une séquence de test.	Suivi de l’exécution du programme de test Pause et exécution en mode pas à pas Gestion des erreurs d’exécution
Exploration des scénarios de mise au point	Mettez au point un programme de test dans différentes situations inattendues.	Erreurs de mise au point Mise au point des tests ayant échoué
Analyse comparative des durées de test	Identifiez et corrigez les problèmes qui limitent la vitesse d’exécution du code.	Analyse comparative des durées de test Optimisation de la vitesse d’exécution de TestStand Optimisation de la vitesse d’exécution du matériel
Interaction avec les ressources du testeur pour mettre au point les problèmes	Utilisez InstrumentStudio pour interagir avec les ressources du testeur afin de mettre au point les problèmes de test.	Présentation d’InstrumentStudio Mise au point des instruments d’alimentation CC Mise au point des oscilloscopes Mise au point des sessions de drivers Mise au point de plusieurs instruments Exportation de données pour une analyse supplémentaire
Utiliser l’Éditeur de patterns numériques pour la mise au point	Utilisez les outils de l’Éditeur de patterns numériques (DPE) pour mettre au point encore davantage les tests ayant échoué.	Présentation de la mise au point avec l’Éditeur de patterns numériques (DPE) Affichage de l’état des broches en temps réel Mise au point de l’exécution de patterns Mise au point de l’oscilloscope numérique Analyse des résultats de test en fonction des balayages de paramètres
Exécution d’une séquence avec l’interface opérateur STS	Exécutez un programme de test à l’aide de l’interface opérateur (OI) de test de semi-conducteurs NI et obtenez le temps réel de l’interface de connexion.	Présentation de l’interface opérateur Configuration et exécution d’un lot Afficher les résultats des tests et des rapports