En quoi consiste le système de test de semi-conducteurs (STS) ?

Les trois tailles de modèle différentes du Système de test de semi-conducteurs (STS) de NI disposées les unes à côté des autres

STS est une solution ATE clé en main qui fournit des tests de qualité laboratoire optimisés en termes de coûts à grande vitesse pour les dispositifs semi-conducteurs RF, à signaux mixtes et MEMS.

Avantages de la solution de test de semi-conducteurs

Optimiser les tests en volume

Déchargez la demande des testeurs de plates-formes à coût élevé et récupérez de la surface en usine grâce à l’architecture modulaire PXI STS et à l’infrastructure à faible coût. Équilibrez le coût, la vitesse et la couverture des tests avec des E/S personnalisables, idéales pour les besoins complexes des produits.

Améliorer le débit et la répétabilité

Obtenez des cycles de test plus rapides grâce à une automatisation rapide et reproductible et à des capacités de nombre de sites élevé. L’architecture STS PXI permet un cadencement précis et une synchronisation des instruments, tandis que le logiciel STS simplifie le développement et l’exécution.

Raccourcir les délais de mise sur le marché

Intégrez des instruments PXI de qualité laboratoire dans la production pour une corrélation transparente des données et un délai de mise sur le marché plus court. Standardisez les tests en réutilisant le code, les routines et l’instrumentation hautes performances, ce qui vous fait gagner des semaines de temps de mise en route et de corrélation.

Simplifier l’intégration mécanique

Simplifiez l’intégration des cellules de test avec les manipulateurs, les handlers, les probers et les cartes d’interface à l’aide de l’ancrage standardisé STS. Assurez la compatibilité entre les configurations tout en minimisant la complexité et le temps de configuration.

Choisissez la configuration du Système de test de semi-conducteurs adaptée à votre application

Chaque configuration NI STS comprend des cartes d’interface de périphérique interchangeables pour des exigences de nombre de broches et de nombre de sites évolutives et est disponible en trois tailles de modèle, allant de l’ultra-compact au volume élevé.

Configuration RF STS

Adaptez votre ATE RF aux besoins de test en production de votre portefeuille, y compris les modules d’Antenne intégrés, les filtres, les amplificateurs, etc.

 

  • Optimiser le test pour les puces RF actives et passives 
  • Assurez la qualité avec une bande passante d’analyse de 1 GHz
  • Vérifier la conformité aux normes sans fil

Configuration STS à signaux mixtes

Optimisez votre ATE à signaux mixtes pour répondre aux besoins de test en production de votre portefeuille, y compris les convertisseurs de données, les composants analogiques linéaires, les interfaces de communication, etc.

 

  • Personnaliser le matériel pour un test optimal
    étendue
  • Accélérer la programmation des tests avec des bibliothèques de mesure
  • Améliorez les tests avec des options audio/haute fréquence

Configuration du STS MEMS

Personnalisez vos systèmes microélectromécaniques (MEMS) ATE en fonction des besoins de test en production de votre portefeuille, y compris les capteurs et les actionneurs.

 

  • Obtenir une efficacité de test parallèle (PTE) supérieure à 98 %
  • Réduisez le coût total grâce à un ATE PXI évolutif
  • Gagnez en précision de laboratoire pour un test à haut rapport S/B

Nos autres unités opérationnelles ont déjà adopté le STS... leurs recommandations ont convaincu notre activité RF de l’essayer pour une application MIMO massive. Je suis très satisfait des progrès... un débit plus élevé signifie plus de dispositifs expédiés plus rapidement, ce qui signifie des résultats commerciaux.

David Reed

Vice-président exécutif des Opérations mondiales

NXP

Parlons d’autres options de test en production

Pour en savoir plus sur les solutions de test de semi-conducteurs NI, discutez avec nos experts techniques.

Accélérez les tests en production avec un logiciel complet

STS Software Bundle

Ingénieur de test en production regardant deux écrans d’ordinateur de bureau montrant des tracés de test de dispositifs à semi-conducteurs.

Obtenez une suite complète d’applications et de drivers pour développer, déployer, mettre au point, optimiser et étalonner des systèmes de test en production. Simplifiez la génération de programmes de test, augmentez l’efficacité des tests parallèles et personnalisez les interfaces opérateur, tout en garantissant la cohérence des versions du système.

NI OptimalPlus Global Analytics

Ingénieur en automatisation utilisant un ordinateur de bureau pour surveiller le flux du processus de production.

Utilisez un logiciel d’analyse basé sur l’IA qui collecte, nettoie et analyse les données de plusieurs sources de données de fabrication et d’entreprise pour optimiser toutes les étapes du cycle de vie du produit. Grâce à des analyses avancées, découvrez comment minimiser la variation des produits et améliorer le rendement.

Services et support pour le STS

Nous fournissons des services d’ingénierie complets et des programmes matériels spécialisés conçus pour répondre aux exigences critiques de disponibilité des applications de test de semi-conducteurs. Ces solutions aident à maximiser l’efficacité, à améliorer les performances des testeurs et à prolonger la longévité du système. À chaque déploiement du STS, nous nous associons à vous pour déterminer le niveau de service adapté aux besoins de votre application et assurer votre succès à long terme.

STS Partners

An NI service partner helps his customer set up their test system.

Explore NI Partners with vetted STS expertise who provide specialized support for semiconductor test system deployment and optimization.

Partenaires STS

Un partenaire de service NI aide ses clients à configurer leur système de test.

Explorez les partenaires NI ayant une expertise STS vérifiée qui fournissent un support spécialisé pour le déploiement et l’optimisation du Système de test de semi-conducteurs.

Afficher les instruments PXI

Unités de source et mesure NI PXI

Les unités de source et mesure (SMU) PXI combinent des capacités de source et de mesure haute précision avec des fonctionnalités conçues pour réduire la durée des tests et augmenter la flexibilité.

Instruments de pattern numérique au format NI PXI

Les instruments de patterns numériques PXI fournissent des capacités numériques de classe ATE à la plate-forme PXI standard. Ils sont conçus pour tester une large gamme de circuits intégrés RF et à signaux mixtes.

Transcepteurs de signaux vectoriels NI PXI

Les transcepteurs de signaux vectoriels (VST) combinent un générateur de signaux vectoriels, un analyseur de signaux vectoriels et un FPGA programmable par l'utilisateur au sein d'un seul appareil. Utilisez ces produits dans le cadre d'applications sans fil et RF telles que les tests d'appareils cellulaires et la caractérisation RFIC.

Un partenaire NI est une entité professionnelle indépendante de NI et n’a aucune relation d’agence ou de « joint-venture » et n’est membre d’aucune association professionnelle incluant NI.