Présentation du cours Développement de programmes de test avec STS - .NET/C#

Le cours Développement de programmes de test avec STS offre une formation pratique à la configuration et à l’utilisation d’un système de test de semi-conducteur (STS) pour communiquer avec un matériel sous test (DUT). Le cours suit le flux de travail et les jalons typiques d’un client, ce qui inclut une interaction étroite avec le matériel correspondant. À l’issue de ce cours, un ingénieur de test sera capable d’utiliser les ressources du testeur STS de manière interactive pour créer, modifier, exécuter et mettre au point des programmes de test avec des modules de code .NET/C# préexistants pour collecter des données de test et des rapports de temps de test.

Informations détaillées sur le cours :

Descriptif du cours Développement de programmes de test avec STS - .NET/C#

Leçon Présentation Thèmes

Introduction au STS

Explorez les principaux concepts du système de test de semi-conducteurs (STS).

  • Introduction à la plate-forme STS

Exploration de la tête de test

Explorez les fonctionnalités et les E/S de haut niveau pour la tête d’essai STS.

  • Présentation de la tête d’essai STS
  • Exploration des entrées et sorties STS T1 M2

Exploration des cartes d’interface

Explorez les fonctionnalités de haut niveau de la carte d’interface de périphérique (DIB) et les différents types d’interface de la carte d’interface.

  • Présentation des cartes d’interface
  • Exploration des types d’interface de la carte d’interface
  • Connexion d’un DIB au STS

Ancrage et interfaçage avec le STS

Décrivez la topologie d’un banc d’essai typique et explorez plusieurs options pour l’ancrage d’un STS.

  • Ancrage et interfaçage standard avec le STS de NI
  • Exemple d’ancrage automatisé

Exploration du logiciel NI STS

Explorez le logiciel que vous utilisez pour surveiller, maintenir, mettre au point et étalonner le STS. Explorez l’environnement de développement de tests et de modules de code pour STS.

  • Présentation du logiciel STS
  • Introduction au logiciel de maintenance STS
  • Introduction à l’environnement de développement de tests
  • Introduction à l’interface opérateur

Navigation dans le flux de travail du développeur de tests

Explorez un exemple de flux de travail du développeur de tests et décrivez ses étapes clés.

  • Exploration d’un exemple de flux de travail du développeur de tests

Étude sur les exigences et les spécifications de sécurité du système STS

Explorez et appliquez les exigences et spécifications de sécurité, la conformité en matière de sécurité et les spécifications environnementales du système STS.

  • Exploration des exigences de sécurité du STS
  • Assurer la conformité en matière de sécurité pour le STS
  • Exploration des spécifications environnementales du STS

Exploration de l’instrumentation des testeurs

Explorez la plate-forme STS PXI et l’instrumentation STS courante.

  • Exploration de la plate-forme NI PXI
  • Identifier l’instrumentation STS
  • Instrumentation STS courante supplémentaire
  • Utilisation du matériel simulé

Explorer les spécifications du système

Explorez les spécifications d’entrée et de sortie STS T1, T2 et T4.

  • Explorer les spécifications du système STS
  • Explorer les spécifications STS en ligne

Étalonnage d’un système STS

Explorez les modules d’étalonnage et les types d’étalonnage utilisés dans le système STS.

  • Qu’est-ce que l’étalonnage ?
  • Explorer les types d’étalonnage STS
  • Explorer les modules d’étalonnage utilisés dans STS
  • Activation du temps d’attente de préchauffage pour STS
  • Vérification de la continuité / fonctionnalité CC

Création d’un projet STS

Créez un programme de test et explorez le fichier de séquence et la structure de dossiers créés pour le programme de test.

  • Création d’un programme de test
  • Explorer la structure des dossiers
  • Explorer l’architecture du programme de test

Explorer les cartes de brochage

Explorez l’objectif de la carte de brochage et son rôle dans la représentation du matériel STS pour broches DUT.

  • Qu’est-ce qu’une carte de brochage ?
  • Explorer des informations contenues dans une carte de brochage
  • Discuter de la documentation requise pour créer une carte de brochage

Réviser la configuration de test et le schéma de la carte d’interface

Explorez la documentation standard du testeur, son contenu et son objectif.

  • Explorer les spécifications du DUT
  • Traçage d’un signal de l’instrument au DUT

Représentation des exigences de mesures

Mappez les exigences de mesure pour vous assurer que le système et ses instruments équipés peuvent répondre aux exigences de mesure du plan de test.

  • Représentation des exigences de mesures
  • Connexion de l’instrumentation aux broches DUT
  • Affectation des ressources du testeur en fonction d’un plan de test

Mappage des broches DUT aux voies de l’instrument

Utilisez l’éditeur de carte de brochage pour créer et modifier des fichiers de cartes de broches DUT aux voies de l’instrument.

  • Ajout et configuration d’un instrument à l’aide de l’éditeur de carte de brochage
  • Examen des erreurs et mises en garde de la carte de brochage
  • Configuration de sessions multi-instruments

Interfaçage avec le DUT à l’aide de la carte d’interface de périphérique

Décrivez les différentes façons de connecter vos instruments à un DIB et identifiez les ressources disponibles pour vous aider à concevoir votre propre carte d’interface.

  • Comment connecter mon DIB à mes instruments ?
  • Comment concevoir mon DIB ?
  • Interfaçage du DUT au DIB

Vérification de la continuité du DUT

Utilisez l’instrument de patterns numériques pour tester la continuité du DUT avant d’exécuter d’autres tests.

  • Qu’est-ce qu’un test de continuité ?
  • Quel instrument dois-je utiliser pour vérifier la continuité du DUT ?
  • Exécution d’un test de continuité

Mise en place du DUT

Utilisez l’éditeur de patterns numériques pour afficher le matériel sous test (DUT) afin que vous puissiez commencer à le tester.

  • Déterminer comment mettre le DUT sous tension
  • Mise sous tension du DUT

Mesure du courant de fuite

Utilisez l’instrument de patterns numériques pour mesurer le courant de fuite du DUT avant d’exécuter d’autres tests.

  • Quel est le premier test à exécuter après le démarrage ?
  • Effectuer un test de courant de fuite

Préparation de la communication avec le DUT

Identifiez les types de fichiers associés à un projet numérique et décrivez les fichiers qui doivent être créés avant de créer un pattern numérique pour communiquer avec le DUT.

  • Explorer le contenu d’un projet numérique
  • Création de fiches techniques
  • Création de feuilles de niveaux
  • Création de feuilles de temps

Création de patterns numériques de base pour communiquer avec le DUT

Créez, éditez, chargez et émettez en rafale des modèles numériques de base pour communiquer avec le DUT à l’aide de l’éditeur de patterns numériques.

  • Explorer des patterns vectoriels
  • Créer des patterns numériques

Conversion de patterns numériques existants

Convertissez des modèles développés dans d’autres environnements pour les utiliser dans l’éditeur de patterns numériques.

  • Convertir des fichiers de patterns existants
  • Démonstration : Conversion d’un fichier existant

Explorer le fichier de séquence de test

Explorez les principaux composants d’un fichier de séquence de test et apprenez à utiliser chaque composant.

  • Quels sont les composants d’un fichier de séquence ?
  • Identification des panneaux dans la fenêtre du fichier de séquence
  • Explorer l’architecture du programme de test

Ajouter des étapes à une séquence de test

Apprenez à insérer des étapes dans une séquence de test.

  • Ajouter une étape à une séquence
  • Explorer les types de pas de test
  • Configuration d’une étape

Création et configuration d’étapes de test

Dans un projet STS, créez et configurez des étapes de test qui appellent des modules de code.

  • Qu’est-ce qu’un module de code ?
  • Choisir un point de départ pour les étapes de test de semi-conducteurs
  • Appeler un modèle d’étape de test TSM
  • Appeler une étape de test/d’action multiple de semi-conducteurs
  • Configuration des paramètres d’étapes de test

Utilisation des modèles d’étapes de test

Décrivez les différents modèles d’étapes disponibles et comment les utiliser dans le cadre d’une séquence de test.

  • Création d’une séquence de test à l’aide de modèles d’étapes

Contrôler l’exécution TestStand

Exécutez une séquence de test et modifiez-la pour qu’elle s’exécute différemment en fonction des conditions ou des paramètres de test.

  • Exécution d’une séquence de test
  • Gestion et partage de données
  • Utilisation des étapes de contrôle de flux pour modifier le flux d’exécution​
  • Utilisation d’expressions pour accéder aux données ou les modifier
  • Changement de l’exécution en fonction de l’échec d’un test

Définir les limites de test

Créez, explorez et importez des limites de test pour mettre à jour rapidement vos séquences de test pour différents scénarios.

  • Exporter vos limites de test
  • Importer vos limites de test
  • Ajouter vos fichiers de limites de test

Créer les configurations de test

Utilisez l’éditeur de programmes de test et vos exigences de test pour créer des configurations de test pour votre système.

  • Créer les configurations de test
  • Définition de plusieurs flux de test

Créer des intervalles pour les DUT en fonction des résultats du test

Décrivez les différentes façons de classer les DUT en fonction des résultats du test et de mettre en œuvre une stratégie de binning.

  • ​Présentation du binning
  • Configuration du fichier de définition des intervalles
  • Création d’intervalles pour les matériels et logiciels

Configuration de l’exécution d’un programme de test

Configurez et exécutez un programme de test dans l’environnement de développement de test

  • Configuration des paramètres de la station
  • Configuration des méthodes de reporting de TestStand pour les résultats du test
  • Configuration des options de la station
  • Configuration des méthodes d’exécution de TestStand pour vos modules de code
  • Exécution de votre programme de test

Génération de rapports de test

Mettre en œuvre une stratégie de collecte des résultats et de génération de rapports de test dans TestStand.

  • ​Configuration des options de rapport
  • Sélection d’un format de rapport
  • Génération d’un rapport ATML
  • Configuration de la collecte des résultats de test

Mise au point d’un programme de test

Utilisez les fonctionnalités intégrées de TestStand pour identifier et corriger les problèmes dans une séquence de test.

  • Suivi de l’exécution du programme de test
  • Pause et exécution en mode pas à pas
  • Gestion des erreurs d’exécution

Exploration des scénarios de mise au point

Mettre au point un programme de test dans différentes situations inattendues.

  • ​Erreurs de mise au point
  • Mise au point des tests ayant échoué

Benchmarking du temps de test

Identifier et corriger les problèmes qui limitent la vitesse d’exécution du code.

  • Benchmarking du temps de test
  • Optimisation de la vitesse d’exécution de TestStand
  • Optimisation de la vitesse d’exécution du matériel

Interaction avec les ressources du testeur pour mettre au point les problèmes

Utilisez InstrumentStudio pour interagir avec les ressources du testeur afin de mettre au point les problèmes de test.

  • Présentation d’InstrumentStudio
  • Mise au point des instruments d’alimentation en CC
  • Mise au point des oscilloscopes
  • Mise au point des sessions de drivers
  • Mise au point de plusieurs instruments
  • Exportation de données pour une analyse supplémentaire

 

Utiliser l’Éditeur de patterns numériques pour la mise au point

Utilisez des outils dans l’Éditeur de patterns numériques pour déboguer davantage les échecs de test.

  • Présentation du dépannage avec l’Éditeur de patterns numériques (DPE)
  • Affichage de l’état des broches en temps réel
  • Mise au point de l’exécution de patterns
  • Mise au point de l’oscilloscope numérique
  • Analyse des résultats du test en fonction des balayages de paramètres

Exécution d’une séquence avec l’interface opérateur STS

Exécutez un programme de test à l’aide de l’interface opérateur (OI) de test de semi-conducteurs NI et obtenez le temps réel de l’interface de connexion.

  • Présentation de l’interface opérateur
  • Configuration et exécution d’un lot
  • Afficher les résultats des tests et des rapports

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