首頁 解決方案 半導體解決方案 晶圓級參數測試 提供高度平行的晶圓級穩定性，加速上市時程

提供高度平行的晶圓級穩定性，加速上市時程

半導體裝置的幾何結構不斷縮小，複雜性也日益增加，再加上自駕車等重大技術趨勢的發展，都對半導體供應鏈施加了額外的壓力，導致供應鏈必須提供更高品質且有保障的產品。為因應這些嚴苛的要求，同時比競爭對手提前發布穩定的技術節點，半導體晶圓製程工程師必須比以往，更快取得更多穩定性量測資料。

 

晶圓級穩定性 (WLR) 解決方案必須滿足以下主要需求：

 

  • 支援晶圓技術節點開發、流程整合與流程監控
  • 迅速產生充足的穩定性量測資料量，以建立準確的統計模型並加速依據資料做出決策
  • 符合 JEDEC 標準的常見故障機制（TDDB、HCI、BTI/NBTI、Vramp、Jramp 等）
  • 縮短整體 WLR 測試時間並加快資料速率
  • 將資本支出與廠房面積的使用效率最大化

半導體晶圓級穩定性解決方案

解決方案優勢

  • 以領先業界的平行機制與量測速度，縮短 WLR 測試週期（從數月縮短為數日）

  • 高度靈活的 SMU-per-pin 架構，可為通道數設定及升級

  • 透過 WLR Test 軟體人機介面與 API，快速簡便地執行 JEDEC 穩定性測試

  • 可選購外掛程式以進行遠端系統管理和資料分析

WLR Test 軟體：強大的應用軟體與 API

輕鬆進行穩定性深入分析

了解 NI 的 WLR Test Software 如何讓您使用可客制化的操作介面、業界標準測試定序器以及抽象化的平行機制與多執行緒功能，輕鬆地執行 JEDEC 穩定性測試。

「透過這種每針腳 SMU 架構所節省的測試時間相當驚人，而且是大型傳統箱型 SMU 所無法匹敵的。我們的方法省去切換與序列量測時間，縮短了整體與單一測試點的測試時間。」

-Imec 半導體技術與系統小組研究員 Bart De Wachter

利用 NI 生態系統建立解決方案

NI 提供多種解決方案整合選項，可針對您的特定應用需求進行客製化。您可利用自有的內部整合團隊，以享有對系統的完整控制，也可運用 NI 與全球 NI 合作夥伴網路所提供的專業技能，取得現成可用的解決方案。

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在應用生命週期期間，NI 都會與您密切合作，並提供訓練、技術支援、諮詢與整合服務，以及維護方案。團隊可參與 NI 專屬與當地的使用者團體，以探索新技能，並透過線上與現場教育訓練來提高熟練度。

半導體晶圓級穩定性解決方案手冊

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