Présentation du cours Mesure de la fiabilité au niveau du wafer

Introduction aux tests de fiabilité au niveau du wafer

Dans cette leçon, vous allez explorer l’objectif de la solution de NI pour les tests de fiabilité au niveau du wafer et localiser les ressources disponibles pour faciliter l’intégration dans un système de test plus grand.

• Défis des systèmes et solutions WLR traditionnels fournis par NI
• Exploration d’autres ressources d’apprentissage WLR

Exploration du matériel du système de test paramétrique

Dans cette leçon, vous explorerez les composants matériels du système de test paramétrique.

• Exploration du matériel PTS
• Préparation du système de test paramétrique

Exploration du logiciel de test de fiabilité au niveau du wafer

Dans cette leçon, vous explorerez les composants logiciels installés dans le cadre du logiciel de test de fiabilité au niveau du wafer.

• Présentation du logiciel WLR
• Installation du logiciel de test WLR
• Exploration des composants du logiciel de test WLR 

Connexion aux DUT

Dans cette leçon, vous apprendrez à définir le wafer, à identifier les DUT à tester sur le wafer et à mapper les voies SMU aux DUT.

• Configuration d’un wafer
• Mappage des voies SMU au DUT
• Préparation des fichiers de configuration

Réalisation de la compensation

Dans cette leçon, vous allez apprendre à compenser les SMU avant d’effectuer des tests WLR pour garantir des résultats de test précis.

• Qu’est-ce que la compensation ?
• Effectuer une compensation ouverte et courte

Exécution de tests TDDB

Dans cette leçon, vous allez apprendre à utiliser la face-avant logicielle de test WLR pour effectuer un test TDDB et afficher les résultats.

• Présentation du test TDDB
• Exécution d’un test de contrainte TDDB

Exécution de tests HCI/BTI

Dans cette leçon, vous apprendrez à utiliser la face-avant logicielle de test WLR pour effectuer des tests HCI/BTI et afficher les résultats.

• Présentation des tests HCI (Hot Carrier Injection)
• Présentation des tests BTI (Bias Temperature Instability)
• Exécution de tests de contrainte HCI/BTI

Configuration des options avancées pour les séquences de test WLR

Dans cette leçon, vous explorerez les options de configuration de votre séquence de test pour répondre à une plus grande variété de besoins de test WLR.

• Test d’une cassette pour wafers
• Amélioration du déterminisme de vos mesures
• Amélioration de la flexibilité du mappage des périphériques 
• Utilisation du mode Source de courant

Personnalisation de l’exécution du test

Dans cette leçon, vous apprendrez à modifier le flux de test en ajoutant des étapes de test personnalisées à l’exécution du test.

• Exploration des personnalisations courantes de l’exécution des tests

Résolution des problèmes courants

Dans cette leçon, vous allez apprendre à mettre au point et à résoudre les problèmes courants qui surviennent dans la configuration du système, le fonctionnement du système et l’exécution des tests.

• Flux de travail de dépannage général
• Mise au point des erreurs de mappage de fichiers de configuration et sélection de fichiers de configuration personnalisés