Principes fondamentaux de l’analogique
Aperçu
Dans le cadre de la série Principes fondamentaux des mesures de National Instruments, cet ensemble de tutoriels vous permet de vous familiariser avec un sujet d’application de mesure commun spécifique grâce à des explications théoriques et des exemples pratiques.
Ce que vous apprenez
Un large éventail de systèmes et d’applications intègrent des périphériques et des signaux analogiques. Il est donc important d’approfondir vos connaissances de base en matière d’analogique pour maîtriser un grand nombre d’applications de test et de mesure actuelles. Cette série de tutoriels sur l’analogique vous fournit des informations essentielles sur les circuits analogiques, les boucles de masse, le bruit, l’échantillonnage, le fenêtrage, l’isolation et les schémas de connexion appropriés pour les mesures.
Contenu
- Circuits analogiques de base
- Qualité de l’échantillonnage
- Fenêtrage : Optimisation des FFT à l’aide des fonctions de fenêtre
- Composants Dithering, Layout et de haute qualité : Outils de réduction du bruit de fond
- Boucles de masse et retours
- Mesures et isolation haute tension
- Mesures basse fréquence et CC
Circuits analogiques de base
 | Passez en revue les principes fondamentaux des circuits analogiques grâce à ce tutoriel : il aborde les concepts des circuits analogiques expliquant la loi d’Ohm, les calculs de capacité et d’inductance, les configurations série et parallèle pour la capacité et l’inductance, sans oublier les filtres RC. Voir le tutoriel complet >> |
Qualité de l’échantillonnage
 | Découvrez les principes fondamentaux de la qualité de l’échantillonnage tels que la résolution, la sensibilité de mesure, l’exactitude, la précision, le bruit et les stratégies de réduction du bruit. Voir le tutoriel complet >> En savoir plus sur le temps d’établissement >> |
Fenêtrage : Optimisation des FFT à l’aide des fonctions de fenêtre
 | Étudiez le fenêtrage et la manière dont vous pouvez utiliser les fonctions de fenêtre pour minimiser les effets de dispersion de spectre. Passez également en revue les différentes fonctions de fenêtre et découvrez comment les implémenter dans l’environnement de développement graphique LabVIEW National Instruments. Voir le tutoriel complet >> |
Composants Dithering, Layout et de haute qualité : Outils de réduction du bruit de fond
 | Les scientifiques et les ingénieurs effectuant des mesures analogiques utilisent souvent le terme « bruit de fond », qui est fréquemment mal compris et, par conséquent, mal traité. Réduisez le bruit qui se produit lors de vos mesures grâce à une compréhension approfondie du bruit de fond, de ses composantes et ce que vous pouvez faire pour le réduire dans votre système de mesure. Voir le tutoriel complet >> |
Boucles de masse et retours
 | Approfondissez votre compréhension des avantages d’une mise à la terre appropriée en étudiant les différents types de sources de signaux et de systèmes de mesure. Passez ensuite en revue différentes configurations permettant d’associer une source de signal au meilleur système de mesure possible afin de minimiser le bruit et l’erreur. Voir le tutoriel complet >> |
Mesures et isolation haute tension
 | Découvrez les types de configurations d’entrée disponibles sur les périphériques d’acquisition de données et les meilleures façons de choisir et d’utiliser les configurations pour vos applications. Passez en revue les mécanismes et stratégies de détection du bruit d’interférence afin de le minimiser grâce à un câblage et à un blindage appropriés. Voir le tutoriel complet >> |
Mesures basse fréquence et CC
 | Passez en revue les principes fondamentaux des mesures basse fréquence et CC, tels que les définitions et les explications détaillées des concepts, y compris le rapport de réjection de mode commun (CMRR), les principes fondamentaux de la mesure de valeur efficace CA, la mesure de résistance, la mesure de courant et le facteur de crête. Voir le tutoriel complet >> |
Liens associés :
Revenir à la page principale des principes fondamentaux des mesures