Accélérez le délai de mise sur le marché grâce à une fiabilité au niveau du wafer hautement parallèle

La géométrie des périphériques à semi-conducteurs se réduit et devient plus complexe, tandis que les tendances technologiques majeures, telles que les véhicules autonomes, exercent une pression supplémentaire sur la chaîne d’approvisionnement des semi-conducteurs pour fournir des garanties plus élevées de qualité des produits. Afin de répondre à ces demandes exigeantes et de libérer des nœuds technologiques stables avant la concurrence, les ingénieurs de processus de wafers à semi-conducteurs ont besoin de plus de données de mesure de fiabilité et plus rapidement que jamais.

 

Une solution de fiabilité au niveau du wafer (WLR) doit répondre à ces exigences clés :

 

  • Prise en charge du développement de nœuds de technologie de wafer, de l’intégration de processus et de la surveillance de processus
  • Générez rapidement des quantités suffisantes de données de mesure de la fiabilité pour construire des modèles statistiques précis et prenez des décisions basées sur les données
  • Respectez les normes JEDEC pour les contraintes communes de WLR à 2 et 4 terminaux (TDDB, HCI et BTI/NBTI)
  • Réduisez la durée totale des tests WLR et accélérez la vélocité des données
  • Maximisez votre potentiel en termes de dépenses en capital et de surface de production

Solution de fiabilité au niveau du wafer à semi-conducteurs

  • Solution WLR hautement parallèle optimisée pour la densité des voies et la vitesse de mesure
  • Jusqu’à 100 voies SMU de classe fA PXIe-4135 dans une seule baie 40 U 19 pouces (ou jusqu’à 50 voies dans une baie 24 U 19 pouces)
  • SMU modulaires et indépendantes avec une véritable architecture SMU par broche
  • Logiciel d’application spécialisé pour les contraintes configurables à 2 et 4 terminaux
  • Le logiciel de gestion des tests TestStand offre des fonctionnalités intégrées pour le profil et l’optimisation de la vitesse d’exécution des tests et le parallélisme, l’intégration de bases de données et la génération de rapports

Avantages de la solution

« La réduction du temps de test grâce à cette méthode SMU par broche est spectaculaire et serait impossible avec des grandes SMU traditionnelles. Notre méthode a éliminé le temps de commutation et de mesure en série, réduisant ainsi le temps total des tests à celui du test d’un unique point de test. »

-Bart De Wachter, chercheur du groupe Technologies et systèmes de semi-conducteurs, imec

CONSTRUISEZ VOTRE SOLUTION AVEC L’ÉCOSYSTÈME NI

NI propose plusieurs options d’intégration de solutions adaptées aux besoins spécifiques de votre application. Vous pouvez utiliser vos propres équipes d’intégration internes pour un contrôle complet du système ou tirer parti de l’expertise de NI et de notre réseau mondial de partenaires NI pour obtenir un système clé en main.

Réseau de partenaires NI

Le Réseau de partenaires NI est une communauté mondiale d'experts en développement de domaines, d'applications et de tests globaux travaillant en étroite collaboration avec NI pour répondre aux besoins de la communauté des ingénieurs. Les partenaires NI sont des gestionnaires de solutions de confiance, des intégrateurs de systèmes, des consultants, des développeurs de produits et des experts des services et des canaux de vente qualifiés dans un large éventail d'industries et de domaines d'application.

Services et assistance

NI accompagne les clients tout au long de la vie d’une application, proposant des services de formation, de support technique, de conseil et d’intégration, et des programmes de maintenance. Les équipes peuvent découvrir de nouvelles compétences en se joignant à des groupes d’utilisateurs de différentes régions et spécifiques à NI, et acquérir une maîtrise grâce à une formation en ligne et en présentiel.

Brochure de la solution de fiabilité au niveau du wafer à semi-conducteurs

Découvrez la solution de fiabilité au niveau du wafer à semi-conducteurs de NI.