Présentation du cours sur les tests de périphériques avec des instruments de pattern numérique

Le cours sur les tests de périphériques avec des instruments de patterns numériques permet aux ingénieurs de test et de validation d’effectuer des tests en production et de caractérisation de périphériques à semi-conducteurs avec des instruments de patterns numériques. Ce cours se concentrera sur la façon dont les instruments de patterns numériques et l’éditeur de patterns numériques peuvent être utilisés pour effectuer des tests de périphériques courants, en mettant l’accent sur la communication DUT, les tests d’interface numérique et les tests de continuité et de fuite. Ce cours vous guidera tout au long du flux de travail de test complet, de l’étalonnage et de la mise au point à l’extension des tests à un séquenceur de test.

Informations détaillées sur le cours :

Programme du cours sur les tests de périphériques avec des instruments de patterns numériques

Leçon Présentation Thèmes
Créer votre premier modèle et l’envoyer en rafale
Configurer une carte de brochage, une feuille de niveau, une feuille de temps et un fichier de modèles, en envoyant un pattern numérique en rafale vers le périphérique sous test (DUT).
  • Instruments de patterns numériques PXI

  • Principales fonctionnalités des instruments de patterns numériques

  • Créer un pattern numérique et l’envoyer en rafale

Créer des cartes de brochage Création de cartes de brochage dans l’éditeur de pattern numérique pour définir les sites de connexion DUT.
  • Présentation des cartes de brochage

  • Création et édition des cartes de brochage

Création de fiches techniques Stockage des valeurs de la fiche technique du DUT dans les variables de la fiche de spécifications. 
  • Fiches techniques

  • Édition de fiches techniques

Création de feuilles de niveaux de brochage Création de feuilles de niveaux de brochage pour définir les tensions d’alimentation, la terminaison et les niveaux logiques du DUT.
  • Pilotage et comparaison des données numériques

  • Modes de terminaison

  • Feuille de niveaux de brochage

  • Modification des niveaux de brochage avec l’éditeur de pattern numérique  

Création de feuilles de temps Création de feuilles de temps pour définir les caractéristiques de cadencement de l’interface avec le DUT.
  • Feuilles de temps

  • Format du lecteur

  • Bords du lecteur

  • Comparer Strobe 

  • Modification des heures définies

Création de fichiers de modèles Création de fichiers de modèles pour communiquer et tester le DUT.
  • Flux de travail des modèles

  • Conversion de fichiers de travail existants

  • Importation de fichiers source

  • Principes de base des modèles 

  • Données des modèles

  • Modification de modèles dans l’affichage grille

  • Affichage de la waveform du modèle

  • Chargement et envoi des modèles en rafale  

Programmation de patterns numériques dans LabVIEW Contrôler par programmation les instruments de patterns numériques via l’API NI-Digital Pattern.
  • Présentation de l’API NI-Digital Pattern
  • Éditer des tableaux associatifs de broches via l’API NI-Digital Pattern
  • Éditer des niveaux de broches via l’API NI-Digital Pattern
  • Éditer des heures définies via l’API NI-Digital Pattern
  • Charger des fichiers via l’API NI-Digital Pattern
Tester les modes de fonctionnement du DUT Configuration du DUT via des commandes SPI (Serial Peripheral Interface) pour tester ses modes de fonctionnement.
  • Exploration de la communication SPI
  • Communication SPI à travers l’exemple du DUT
Exécution de tests de relecture de registre Exécution d’un test de relecture de registre pour valider les capacités de communication du DUT.
  • Introduction aux tests de relecture de registre
  • Test de relecture de registre
Valider le cadencement du DUT Interfacer avec des équipements de test externes pour valider le cadencement du DUT.
  • Introduction à la validation du cadencement du DUT
  • Valider le cadencement du DUT exemple
Exécuter des tests de continuité et de fuite Exécution de tests de continuité et de fuite pour valider la connexion des broches du DUT.
  • Introduction aux tests de continuité et de fuite
  • Exploration des fondamentaux de l’unité de mesure paramétrique par broche (PPMU)

 

 

Accroître la robustesse du modèle via le contrôle du flux

 

 

 

 

Accroître la robustesse d’un modèle en utilisant des codes opération pour établir un contrôle de flux.

 

 

 

 

  • Introduction aux codes opération dans l’Éditeur de pattern numérique
  • Utilisation des codes opération Repeat et Loop dans le modèle
  • Exploration des codes opération Jump et Call
  • Utilisation du comportement conditionnel
  • Exploration des marqueurs de séquenceur et des registres des codes opération

 

 

 

 

Utilisation des Waveforms sources

 

 

 

 

Utilisation de waveforms sources en série et en parallèle pour simplifier la structure du modèle via des données variables.

 

 

 

 

  • Exploration des waveforms sources
  • Configuration des waveforms source en série
  • Utilisation de waveforms sources en série dans des modèles 
  • Exploration du remplacement de l’état des broches sources 
  • Charger et décharger des waveforms sources 
  • Configuration des waveforms sources en parallèle
  • Utilisation de waveforms sources en parallèle dans des modèles 
  • Considérations relatives à la bande passante source

 

 

 

 

Utilisation de waveforms de capture

 

 

 

 

Utilisation de waveforms de capture pour stocker les données reçues de validation et de post-traitement.

 

 

 

 

  • Exploration des waveforms de capture
  • Configuration des waveforms de capture en série
  • Configuration des waveforms de capture en parallèle
  • Utilisation des waveforms de capture dans des modèles
  • Charger et décharger des waveforms de capture
  • Considérations relatives aux waveforms de capture 

 

 

 

 

Analyse des résultats des tests via History RAM Report

 

 

 

 

Utilisation de History RAM Report pour mettre au point le modèle ou le périphérique sous test (DUT).

 

 

 

 

  • Exploration de History RAM
  • Utilisation de l’API NI-Digital History RAM 
  • Considérations relatives à la bande passante et à la mémoire

 

 

 

 

Affichage de signaux via un oscilloscope numérique

 

 

 

 

Utilisation de l’oscilloscope numérique pour afficher les niveaux de tension réels au niveau des broches de l’instrument de pattern numérique (PXIe-657x).

 

 

 

 

  • Exploration de l’oscilloscope numérique
  • Configuration et utilisation d’un oscilloscope numérique

 

 

 

 

Utilisation de tracés Shmoo pour visualiser les relations entre les paramètres

 

 

 

 

 

 

 

Utilisation de tracés Shmoo pour itérer à travers les paramètres de modèle et afficher les résultats.

 

 

 

 

 

 

 

  • Exploration des tracés Shmoo
  • Exploration des modes d’exécution des tracés Shmoo

 

 

 

 

Synchronisation avec d’autres instruments

 

 

 

 

Implémentation de stratégies de synchronisation telles que le partage de déclenchements ou l’utilisation de NI-TClk pour coordonner les tâches via d’autres instruments.

 

 

 

 

  • Génération de déclenchements
  • Configuration du déclenchement de démarrage 
  • Utilisation de NI-TClk avec plusieurs instruments 
  • Détection de conditions de correspondance ou d’échec
  • Présentation des méthodes de synchronisation

 

 

 

 

Câblage et étalonnage

 

 

 

 

Compensation des décalages de câble et de tension, et exploration des exigences d’étalonnage du périphérique.

 

 

 

 

  • Configuration de la réflectométrie du domaine temporel
  • Connexion de la détection de masse DUT
  • Étalonnage des périphériques de patterns numériques

 

 

 

 

Utilisation des codes opération lors des tests d’analyse

 

 

 

 

Utilisation de codes opération d’analyse pour diviser un vecteur en un ou plusieurs cycles d’analyse.

 

 

 

 

  • Exploration des modèles d’analyse
  • Utilisation des codes opération d’analyse dans des modèles 

 

 

Commencez le cours sur les tests de périphériques avec des instruments de patterns numériques dès aujourd’hui