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PXIe-6570

PXIe-6570

PXI​デジタル​パターン​計測器

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100 M​ベクトル/​秒、​PXI デジタル​パターン​計測器—​NI PXIe‑6570​は、​半導体​の​特性​評価​と​製造​テスト​に​最適​です。 NI PXIe‑6570​は、​ピン​マップ​や​仕様、​レベル、​タイミング、​パターン​を​構成​できる​Digital Pattern Editor​とともに​使用​し​ます。 また、​Digital Pattern Editor​に​は、​Shmoo​プロット​や​デジタル​スコープ、​履歴​RAM、​ピン​状態、​システム​ステータス​の​ビューア​といった​デバッグ​ツール​も​備​わっ​てい​ます。

製品​サポート​リソース

製品​の​使い方​が​よく​わかる​製品​マニュアル​を​ご​用意​し​てい​ます。

製品​に​対応​する​計測​器​ドライバ​を​検索​し​て、​ダウンロード​でき​ます。

サンプル​プログラム​や​トラブル​シューティング​情報​など、​あらゆる​サポート​コンテンツ​を​ご​用意​し​てい​ます。

NI​コミュニティ​の​メンバー​と​の​ネットワーク​作り​や​情報​共有​が​可能​です。​また、​質問​を​投稿​する​こと​も​でき​ます。