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PXI​デジタル​パターン​計測​器​とは

PXI​デジタル​パターン​計測​器​は、​半導体​ATE​と​同等​の​デジタル​テスト​開発​機能​を、​業界​標準​の​テスト・​計測​プラットフォーム​で​ある​PXI​プラットフォーム​に​も​たら​し​ます。​電源​管理​集積​回路​（PMIC）​から、​無線​通信​機能​と​センシング​機能​を​搭載​した​IoT​向け​システム​オン​チップ​（SoC）​や​ベース​バンド​トラ​ン​シー​バ​に​いたる​まで、​様々​な​ミックス​ド​シグナル​IC/​RFIC​の​特性​評価​と​製造​テスト​の​生産​性​を​向上​でき​ます。

Digital Pattern Editor

Digital Pattern Editor​は、​テストパターン​を​作成、​編集、​イン​ポート​できる​対話​式​ソフトウェア​で、​PXI​デジタル​パターン​計測​器​と​組み合わせ​て​使用​し​ます。 デバイス​の​ピン​マップ、​仕様、​パターン​の​編集​機能​が​統合​さ​れ​て​いる​ため、​デジタル​パターン​テスト​の​開発​に​必要​な​作業​を​Digital Pattern Editor​一つ​で​全て​カバー​でき​ます。

デジタル​テストパターン​を​デバッグ​する​ツール

Digital Pattern Editor​は​様々​な​条件下​で​の​DUT​の​振る舞い​を​詳細​に​把握​できる​シュムプロット​や、​ピン​の​信号​の​アナログ​波形​を​可視​化​する​デジタル​スコープ​といった​デバッグ​ツール​が​搭載​さ​れ​てい​ます。

プログラミング​による​パターン​実行

LabVIEW、​C、​または.NET​開発​ツール​で​NI-​Digital Pattern Driver​を使用すれば、​Digital Pattern Editor​で​開発​した​テストパターン​を​プログラム​実行​する​テスト​コード​を​開発​でき​ます。

TestStand Semiconductor Module

TestStand Semiconductor Module​を​Digital Pattern Editor​と​NI-​Digital Pattern Driver​とともに​使用​すると、​DUT​を​中心​と​した​マルチ​サイト​プログラミング​による​半導体​テスト​システム​（STS）​開発​を​行う​こと​が​でき​ます。

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PXI​デジタル​パターン​計測​器、​Digital Pattern Editor、​および​NI-​Digital Pattern Driver​を​組み合わせ​て、​半導体​ATE​と​同等​の​デジタル​テスト​開発​機能​を​PXI​プラットフォーム​の​上​で​利用​する​方法​を​ご​紹介​し​ます。

既存​の​PXI​デジタル​計測​器​から​PXI​デジタル​パターン​計測​器​へ​移行​する​際​に​重要​な​点​を​ご​紹介​し​ます。

STS​を​使用​し​て、​PXI​プラットフォーム​の​オープン​性​と​柔軟性​を​半導体​製造​テスト​に​生かす​方法​を​ご​紹介​し​ます。

プラットフォーム​アプリケーション​キット

PXI​入門​リソース​キット

PXI​入門​リソース​キット​では、​アーキテクチャ​に関する​注意​点​や​関連​する​事例、​性能​基準​など、​PXI​プラットフォーム​を​使用​した​自動​テスト​および​計測​の​基本​について​解説​し​ます。

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製品​サポート​リソース

製品​の​使い方​が​よく​わかる​製品​マニュアル​を​ご​用意​し​てい​ます。

製品​に​対応​する​計測​器​ドライバ​を​検索​し​て、​ダウンロード​でき​ます。

サンプル​プログラム​や​トラブル​シューティング​情報​など、​あらゆる​サポート​コンテンツ​を​ご​用意​し​てい​ます。