Test fonctionnel et paramétrique de la microélectronique

Réduisez les risques et accélérez les résultats du programme

Pour relever les défis posés par ces nouveaux DUT complexes, NI propose plusieurs outils matériels et logiciels qui permettent aux ingénieurs de test de développer des systèmes de test répondant à des besoins mixtes à faible volume et offrant une plus grande extensibilité pour les applications futures. Notre nouvelle approche réduit considérablement les coûts d’investissement à l’aide d’équipements de test hautes performances associés à l’IP de mesure clé, ce qui vous permet de capturer de meilleures données plus rapidement et d’exécuter plusieurs cas de test simultanément avec une vitesse et une qualité de mesure à la pointe de l’industrie.

SOLUTION PHARE

Valider les composants et modules de tableau à balayage électronique

L’architecture de référence de caractérisation de matrice à balayage électronique (ESA) a été conçue pour simplifier la validation des composants et modules microélectroniques utilisés dans les systèmes électromagnétiques de prochaine génération tels que les radars AESA. L’architecture de référence peut aider à améliorer l’efficacité du développement des tests, à augmenter la couverture des tests et à réduire le coût global des tests.

Architecture de référence

Architecture de référence de caractérisation ESA

L’architecture de référence de caractérisation ESA fournit un point de départ de haut niveau aux ingénieurs de caractérisation et de test pour effectuer des mesures RF impulsionnelles sur les éléments individuels d’un système ESA.

CC à RF

La couverture de mesure de NI s’étend du CC aux ondes millimétriques, couvrant les bandes L à Ka, garantissant la couverture de mesure appropriée pour tout votre plan de test.

Synchronisation inférieure à la nanoseconde via TClk

Synchronisez étroitement les instruments RF et en bande de base avec une précision inférieure à la nanoseconde pour offrir une solution complète pour les tests I/Q RF et en bande de base.

Large bande passante instantanée

Avec jusqu’à 1 GHz de bande passante instantanée disponible, l’instrumentation RF NI convient parfaitement aux tests de composants et modules système clés pour les communications radar, de guerre électronique et par satellite.

Une expérience logicielle unifiée

Avec des interfaces interactives faciles à utiliser pour développer et mettre au point des systèmes et des API automatisables pour déployer à la fois des systèmes de caractérisation et de test en production, la solution de NI fournit une expérience logicielle complète et unifiée tout au long du cycle de conception.

Travailler avec un partenaire NI

Le réseau de partenaires NI est une communauté mondiale d’experts en matière de domaines, d’applications et de tests qui travaillent avec NI pour répondre à vos besoins. Les partenaires NI sont des gestionnaires de solutions de confiance, des intégrateurs de systèmes, des consultants, des développeurs de produits et des experts des services et des canaux de vente qualifiés dans un large éventail d’industries et de domaines d’application.

Ressources supplémentaires

Défis de conception et de test de l’antenne à balayage électronique moderne

L’ESA est la base de nombreuses applications dans les secteurs de l’aérospatiale et de la défense. Découvrez le cycle de vie de la conception et les défis des tests associés aux périphériques ESA modernes et obtenez des informations sur l’évolution future des applications ESA.

Méthodologies de test pour les modules de réception de transmission modernes

Découvrez l’architecture du module T/R moderne et étudiez les principales méthodes d’essai et les meilleures pratiques de mesure nécessaires pour caractériser et tester entièrement ces composants avancés.