Que sont les instruments de patterns numériques NI PXI ?

Les instruments de patterns numériques PXI fournissent des capacités numériques de classe ATE à la plate-forme PXI standard. Ils sont conçus pour tester de nombreux CI RF et à signaux mixtes, depuis les circuits intégrés de gestion de l’alimentation et frontaux RF, aux transcepteurs et systèmes sur puce pour l’IdO intégrant connectivité et capteurs.

Éditeur de pattern numérique

L’Éditeur de pattern numérique est un outil interactif pour importer, modifier ou créer des pattern numériques de test. Le logiciel intègre des fiches d’édition pour cartes de broches périphérique, spécifications et modèles destinées à développer ou modifier des vecteurs et modèles de test numériques importés.

Outils de mise au point de patterns de test numériques

L’Éditeur de pattern numérique comprend des outils tels que des tracés de Schmoo pour une compréhension plus en profondeur des performances du périphérique sous test (DUT) soumis à une variation. L’Éditeur propose également des outils de mise au point tels que la superposition des échecs de pattern sur un pattern ou l’utilisation d’une étendue numérique pour une vue analogique des données de broche.

Envoi de patterns en rafale par programmation

Le driver NI de pattern numérique en LabVIEW, C ou outils de développement .NET offre la possibilité de développer du code de test pour interagir avec des instruments de patterns numériques au format PXI.

Module TestStand Semiconductor

Le Module TestStand Semiconductor est associé au logiciel d’Éditeur de pattern numérique et au driver de pattern numérique de NI, avec un support natif de l’état des broches et la programmation de systèmes de test de semi-conducteurs (STS) basée sur le matériel sous test (DUT).

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