Test paramétrique au niveau du wafer

Les ingénieurs de test au niveau du wafer ont besoin de réduire les temps de test, sans pour autant sacrifier la qualité et la précision des mesures.

Une approche plus performante des tests paramétriques au niveau du wafer

Au fur et à mesure que les fondeurs de silicium introduisent de nouveaux processus innovants et réduisent la taille des circuits, ils doivent s'assurer que ces changements n'affectent pas la fiabilité à long terme de leurs produits. L'évolution rapide des technologies oblige notamment à collecter de plus en plus de données de fiabilité et à les analyser, tout en réduisant le coût des tests. Cependant, de nombreux ingénieurs de test de fiabilité se voient dans l'impossibilité de relever ces défis avec des solutions traditionnelles. Ils se tournent alors vers des solutions modulaires et souples, capables de s'adapter à l'évolution des besoins.

Kit de ressources pour la plate-forme PXI

Découvrez les fondamentaux de la plate-forme PXI pour la caractérisation de semi-conducteurs, à l'aide de notes architecturales, d'études de cas pertinentes et d'indicateurs de performances.

Ressources associées

Produits et solutions

Réseau de partenaires NI Alliance

Le réseau de partenaires Alliance est composé de plus de 1000 sociétés spécialisées dans des solutions complètes. Qu'il s'agisse de produits, de systèmes, de services d'intégration, de conseils ou de formation, nos partenaires disposent des outils et du savoir-faire nécessaires pour contribuer efficacement aux projets d'ingénierie les plus complexes.