Test de circuits intégrés RF (RFIC)

La multiplication des technologies sans fil et la restriction des délais de mise sur le marché poussent les ingénieurs à adopter une approche plus rapide et plus souple pour diminuer les coûts de développement et de test de circuits intégrés RF.

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Aperçu du savoir-faire NI

Les exigences des normes sans fil en cours d'élaboration, comme le LTE Advanced Pro, la 5G et le 802.11ax, soulèvent de nouveaux enjeux pour les ingénieurs d'essais. Leurs caractéristiques – associées à l'émergence d'autres technologies telles que le suivi d'enveloppe et la pré-distorsion numérique – compliquent la tâche des ingénieurs qui cherchent à réduire les temps de test tout en augmentant leur débit, et cela sans perdre en précision ni augmenter les coûts. En associant des capacités de mesure RF avec des instruments à signaux mixtes, les solutions de test au format PXI proposées par NI sont idéales pour le test en production en grand volume d'amplificateurs de puissance RF, de modules frontaux RF, d'émetteurs-récepteurs et de modules intégrés. Nos solutions PXI répondent aux besoins de tests, de la caractérisation au test final en production, ce qui réduit le coût des tests des dispositifs et accélère leur mise sur le marché.

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Le réseau Alliance Partner est composé de plus de 950 sociétés spécialisées dans des solutions complètes. Qu'il s'agisse de produits, de systèmes, de services d'intégration, de conseils ou de formation, nos partenaires disposent des outils et du savoir-faire nécessaires pour contribuer efficacement aux projets d'ingénierie les plus complexes.

Kit de ressources


Principes fondamentaux du test d'amplificateurs de puissance

L'amplificateur de puissance – en tant que composant discret ou intégré à un module frontal– est un circuit intégré RF constitutif des radio modernes. Cette série de présentations en deux parties aborde les principes fondamentaux du test d'amplificateurs de puissance et de modules frontaux RF par le biais d'articles techniques et de tutoriels vidéos.