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微電子功能與參數測試

  • 面對最新的微電子測試挑戰

    雷達、衛星通訊與電子作戰等現代任務系統的改良，不斷突破效能與複雜度的極限。為了滿足這些任務參數，系統對於尖端 RF 與數位微電子技術的依賴日益加深，這時就需要使用可從功能參數測試擴充到系統驗證的進階混合式 I/O 測試台。測試工程師必須敏捷反應並適應繁複且日新月異的受測裝置，將測試設備的效率最大化，並領先市場需求。

 
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降低風險並加速程式交付進程

為了克服這類新型繁複受測裝置帶來的挑戰，NI 提供了種軟硬體工具，可協助測試工程師開發因應高度混合、低產量需求的測試系統，並為未來的應用提供更高的擴充能力。我們的新方法運用高效能測試設備結合關鍵量測 IP，能大幅降低資金成本，讓您更迅速地擷取更佳的資料，還能以領先業界的量測速度與品質同時執行多個測試案例。

焦點解決方案

驗證電子掃描陣列元件與模組

電子掃描陣列 (ESA) 特性分析參考架構的設計，可以簡化 AESA 雷達等新一代電磁系統用微電子元件與模組的驗證。該參考架構有助於提升測試開發效率、擴大測試範圍並降低測試整體成本。

ESA 參考架構

DC 至 RF

NI 的量測涵蓋範圍從 DC 至 mmWave (包含 L 至 Ka 頻帶)，可針對您的整個測試計畫提供正確的量測範圍。

亞毫微秒級同步化

以亞毫微秒級準確度達成基頻與 RF 儀器的緊密同步，為 RF 與基頻 I/Q 測試提供完整解決方案。

廣大的瞬間頻寬

NI RF 儀器擁有高達 1 GHz 的可用瞬間頻寬，非常適合用來測試雷達、電子作戰與衛星通訊的關鍵系統元件與模組。

一致的軟體使用體驗

NI 的解決方案具有簡單易用的互動式介面面板，可供開發與除錯系統使用，並具有可自動化 API，適用於部署特性分析與生產測試系統，因此能在設計週期中提供完整且一致的軟體使用體驗。

相關產品與解決方案

與 NI 合作夥伴攜手合作

NI 合作夥伴網路為全球社群，由頻域、應用與測試專家組成，並與 NI 合作以滿足您的需求。NI 合作夥伴是值得信賴的解決方案業者、系統整合商、顧問、產品開發人員，以及服務與銷售通道專家，擁有多種產業與應用領域的豐富技能。

Additional Resources

Design and Test Challenges of the Modern Electronically Scanned Array

The ESA is the foundation for many applications in aerospace and defense. Learn about the design life cycle and test challenges associated with modern ESA devices and get insights into the future evolution of ESA applications.
下載

Test Methodologies for Modern Transmit Receive Modules

Learn about the architecture of the modern T/R module and investigate the key testing methodology and measurement best practices required to fully characterize and test these advanced components.
下載

NI 合作夥伴為獨立於 NI 之外的商業實體，與 NI 之間不具有任何經銷、合作夥伴或合資關係。