什麼​是​電子​掃描​陣列 (ESA) 特性​分析​參考​架構?

ESA 特性​分析​參考​架構​是​一種​可​擴充​的​模組化​解決​方案,​其中​包含 Pulsed RF Measurement Library,​可​因應​整個​設計​生命​週期​的​各種​測試​挑戰。

在 ESA 上​進行​脈波​分析

在 ESA 上​進行​脈波​分析

ESA 參考​架構​的​模組化​硬體​與 IP 函式​庫,​說明​了​如何​進行​脈波​分析 (例如​脈衝​輪廓​與​脈衝​穩定性),​以​針對​功率放大器​與​傳輸/​接收​模組​進行​正確​的​特性​分析。

使用 VST 量​測 ESA 的 S 參數

量​測 S 參數

ESA 特性​分析​參考​架構​可​讓​您​使用​連續​波​與​脈衝​波形​進行​靈活​的 S 參數​量​測​作業,​而且​所用​的​硬體​與​使用 VST 進行​大型​訊號​分析​相同。​您​可以​將 S 參數​與​其他​測試​結合,​並​透過​單一​可​重設​的​模組化​系統​來​簡化​整合​作業。

ESA 上​的​功率​增強​效率

在 ESA 元件​上​量​測 PAE

參考​架構 IP 可​提供​用於​功率​增強​效率 (PAE) 量​測​的​互動​範本​和​程式​化 API,​簡化 DC 與 RF 量​測​結果​的​整合​作業。

透過 TestStand 自動化 ESA 量​測​作業

自動化 ESA 量​測​作業

ESA 特性​分析​參考​架構​說明​如何​透過 TestStand 來​自動化​功率​增強​效率​等​常見​的​量​測​作業,​以便​您​進行​功率​與​頻率​的​量​測​作業。

焦點​內容

 

現代​電子​掃描​陣列​的​設計​與​測試​挑戰

 

深入​了解​測試​電子​掃描​陣列 (ESA) 元件​所​面臨​的​挑戰。

 

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