From Friday, April 19th (11:00 PM CDT) through Saturday, April 20th (2:00 PM CDT), 2024, ni.com will undergo system upgrades that may result in temporary service interruption.
We appreciate your patience as we improve our online experience.
From Friday, April 19th (11:00 PM CDT) through Saturday, April 20th (2:00 PM CDT), 2024, ni.com will undergo system upgrades that may result in temporary service interruption.
We appreciate your patience as we improve our online experience.
Test Program Development with STS Course 提供實際操作教育訓練，以建立與使用半導體測試系統 (STS) 跟受測裝置 (DUT) 進行通訊。此課程會依循一般的半導體測試工作流程與里程碑，並且包含與相對應硬體的密切互動。完成此課程之後，測試工程師能以互動方式使用 STS 測試機資源，透過既有的程式碼模組 (使用 LabVIEW 或 .NET/C# 開發) 來建立、修改、執行測試程式並進行除錯，進而收集測試資料與測試時間報告。
課程最新版本發表日期或版本號碼： 隨選23.0
隨選：5 小時
使用或評估 NI 半導體測試系統 (STS)，以執行半導體生產測試或大量自動化裝置驗證的半導體測試工程師。
對半導體測試策略與方法具備一般知識
一般電腦熟練度
基本測試工程知識
STS Software Bundle
半導體測試系統 (STS)
講師授課的虛擬教育訓練課程會隨附數位課程教材，並由 NI 學習中心提供。
講師授課的 NI 線上教育訓練課程是透過 Zoom 進行，而 NI 會提供 Amazon AppStream/LogMeIn 存取權，以便參與者在配備最新版軟體的虛擬機器上進行課堂練習。
設定與配置 STS，以測試混合訊號半導體裝置。
與 DUT 進行通訊。
使用 STS 測試機資源，透過預先編寫的程式碼模組，以互動方式建立、修改、執行測試程式並進行除錯。
說明、修改測試程式架構，並設定執行流程。
透過除錯面板，對裝置、訊號與測試序列進行除錯。
收集測試資料與產生測試報告。
建立測試時間的基準。
| 課程 | 概述 | 主題 |
|---|---|---|
| 介紹 STS | 探索半導體測試系統 (STS) 的主要概念。 |
|
| 探索測試頭 | 探索 STS 測試頭的高階功能與 I/O。 |
|
| 探索負載板 | 探索裝置介面卡 (DIB) 的高階功能，以及不同的測試載板介接類型。 |
|
| 與 STS 對接與介接 | 描述典型的測試單元的拓撲，並探索數種 STS 的對接選項。 |
|
| 探索 NI STS 軟體 | 探索相關軟體工具，以監控、維護、除錯與校準 STS 以及適用於 STS 的測試開發與程式碼模組開發環境。 |
|
| 瀏覽測試開發人員工作流程 | 探索測試開發工作流程範例及其關鍵步驟。 |
|
| 研究 STS 安全規定與規格 | 探索並套用 STS 系統的安全需求與規格、安全合規性，與環境規格。 |
|
探索測試機儀器 | 探索 STS PXI 平台與常見的 STS 儀器。 |
|
| 探索系統規格 | 探索 STS T1、T2 與 T4 輸入與輸出規格。 |
|
| 校準 STS | 探索 STS 系統的校準模組與校準類型。 |
|
| 建立 STS 專案 | 建立測試程式並探索為測試程式所建立的序列檔案與資料夾結構。 |
|
| 探索針腳分布圖 | 探索針腳映射的目的，及其在將 STS 硬體映射至 DUT 針腳的角色。 |
|
| 檢視測試機設定與測試載板簡圖 | 探索標準測試機文件、其內容與用途。 |
|
| 對應量測需求 | 對應量測需求，以確保系統及其配備的儀器可符合測試計劃的量測需求。 |
|
| 將 DUT 針腳對應至儀器通道 | 使用 Pin Map Editor 建立並修改針腳映射檔案，將 DUT 針腳對應至儀器通道。 |
|
| 使用裝置介面卡以介接 DUT | 探索將儀器連接至裝置介面卡 (DIB) 的不同方式，並找出可用資源以協助設計自己的測試載板。 |
|
| 確認 DUT 的連續性 | 在執行其他測試之前，請使用數位模式儀器測試 DUT 的連續性。 |
|
| 啟動 DUT | 使用 Digital Pattern Editor 調出受測裝置 (DUT)，以便開始測試。 |
|
| 量測漏電流 | 在執行其他測試之前，請透過數位模式儀器量測 DUT 的漏電流。 |
|
| 做好與 DUT 進行通訊的準備 | 找出數位專案相關的檔案類型，並說明在建立數位碼型以與 DUT 通訊之前，必須先建立哪些檔案。 |
|
| 建立基本數位碼型，以與 DUT 進行通訊 | 使用 Digital Pattern Editor，即可建立、編輯、載入，並突增基本數位碼型，以便與 DUT 通訊。 |
|
| 轉換既有的數位碼型 | 轉換在其他環境中開發的模型，以便在 Digital Pattern Editor 中使用。 |
|
| 探索測試序列檔案 | 探索測試序列檔案的主要元件，以及每個元件的使用方法。 |
|
| 在測試序列中新增步驟 | 探索如何將步驟插入測試序列。 |
|
| 建立與設定測試步驟 | 於 STS 專案中，建立並設定測試步驟以呼叫程式碼模組。 |
|
| 使用測試步驟範本 | 探索不同的可用步驟範本，以及如何在測試序列中使用這些範本。 |
|
| 控制 TestStand 的執行作業 | 執行測試序列，並根據測試條件或設定而修改測試序列以不同方式執行。 |
|
| 設定測試限制 | 建立、探索並彙入測試限制，以針對不同情形快速更新測試序列。 |
|
| 建立測試設定 | 透過 Test Program Editor 與您的測試需求，為系統建立測試設定。 |
|
| 根據測試結果對 DUT 進行分級處理 | 探索根據測試結果對 DUT 進行分類的不同方式，並實作分級策略。 |
|
| 設定測試程式的執行作業 | 於測試開發環境中設定並執行測試程式。 |
|
| 產生測試報告 | 透過 NI TestStand 實作結果收集與測試報告策略。 |
|
| 對測試程式進行除錯 | 使用內建的 TestStand 功能，可識別並修復測試序列中的問題。 |
|
| 探索除錯情境 | 針對不同的意外情況，除錯測試程式。 |
|
| 建立測試時間的基準 | 找出並解決限製程式碼執行速度的問題。 |
|
| 與測試機資源互動，以對問題進行除錯 | 透過 InstrumentStudio 與測試機資源互動，以除錯測試問題。 |
|
| 使用數位碼型編輯器以進行除錯 | 使用 Digital Pattern Editor (DPE) 中的工具，以進一步除錯測試故障。 |
|
| 透過 STS 操作介面執行序列 | 透過 NI 半導體測試操作介面 (OI) 執行測試程式，即可取得實際的插槽時間。 |
|