RF Test with STS 課程概述
RF Test with STS 課程將介紹典型的客戶工作流程與重要事項，其中包含與標準 STS RF 硬體的密切互動。完成此課程後，RF 測試開發人員將能根據 RF 設定，以互動方式使用 STS RF 資源來建立、修改、執行與除錯 RF 測試程式。本課程建立於 Test Program Development with STS 與 Test Code Module Development with STS and .NET/C# 課程所涵蓋的 STS 基礎知識之上。
上課形式
課程目標
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認識 STS RF 子系統的元件、功能與用途。
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連接 RF DUT 並測試其連續性
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使用半導體測試自動化架構 (STAF) 建立 RF STS 專案
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使用 InstrumentStudio 與 Trace Viewer 監控 RF STS 專案並進行除錯
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運用測試時間縮短 (TTR) 技術提升 RF 測試系統效能
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遵循最佳實務以發佈適用於量產的 RF STS 程式
課程詳情
課程長度
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隨選課程：4.5 小時
課程對象
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欲使用或評估標準 RF NI 半導體測試系統 (STS)，針對 RF IC 開發與執行測試的半導體測試開發人員
先修課程
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對半導體測試策略與方法具備一般知識
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已完成 Test Program Development with STS Course
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Test Code Module Development with STS and .NET/C# 課程
會用到的 NI 產品
參加隨選課程：
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半導體測試系統 (STS)
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STS Software Bundle 25.0
教育訓練教材
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隨選教育訓練包含 NI 學習中心所提供的數位課程教材，可於租用版的存取期限內取得
點數費用
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隨選課程：軟體租用版與企業協議均含課程費用，亦可憑教育服務點數 5 點或教育訓練點數 2 點兌換
RF Test with STS 課程大綱
| 課程 | 概述 | 主題 |
|---|---|---|
| 探索 RF STS 硬體 | 辨識 STS RF 子系統的元件及其功能。 |
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| RF STS 校準介紹 | 辨識 RF STS 校準的主要類別，並探索測試頭校準的詳細資訊。 |
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| 探索 RF DUT | 探索用於介接 DUT 與 STS 儀器的 RF 受測裝置 (DUT) 與裝置介面卡 (DIB)。 |
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| 連接 RF DUT 至測試機 | 運用 DUT 設定文件建立針腳分布圖，使測試與量測軟體能辨識 DUT 針腳與 STS 儀器間的連接。 |
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| 啟動 RF DUT | 使用 STS 中的儀器為 DUT 供電，並對 DUT 針腳執行連續性測試。 |
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| DUT 層級校準工作流程與工具 | 將系統校準延伸至 DUT 以確保測試量測的準確性。 |
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| 探索建立 RF STS 測試程式的流程 | 說明半導體測試自動化架構的用途，了解建立新 RF STS 測試序列的高階工作流程。 |
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| 探索 STAF 的元件 | 辨識 STAF 各元件並說明其在建立 RF STS 測試程式中的用途。 |
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| 建立新 RF IC 測試序列 | 使用 STAF 及 TSRU 的元件建立新的 RF STS 測試序列。 |
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| 使用 InstrumentStudio 進行除錯 | 回顧 STS 除錯技術基礎知識，並探索如何運用 InstrumentStudio 進行 RF 儀器除錯。 |
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| 使用 Trace Viewers 進行除錯 | 回顧 Runtime Data Viewer 的應用，並探索如何使用 Trace Viewer 進行 RF STS 測試程式除錯。 |
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| 縮短 RF STS 測試時間 | 回顧一般 STS 測試時間縮短技術，並探討 RF STS 測試的專屬技術。 |
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| 發佈適用於量產的 RF STS 測試程式 | 執行能加快測試程式發佈至量產環境的準備工作。 |
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繼續學習之路
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