整合 VCSEL I-V 測試子系統課程概述

VCSEL I-V 測試子系統簡介

說明 VCSEL I-V 測試子系統的高階用途，並找出可用資源以協助整合於更大的測試系統。

• 什麼是 NI VCSEL I-V 測試子系統？
• 其他學習資料

將 VCSEL 硬體整合至測試系統

將 VCSEL I-V 測試子系統與現有測試系統的其他硬體元件整合。

• 探索 VCSEL I-V 測試子系統的硬體元件
• 選擇硬體設定選項
• 設計測試載板
• 開始使用 VCSEL I-V 測試子系統
• 維護您的硬體

探索 VCSEL I-V 測試軟體

說明隨附於 VCSEL I-V 測試軟體的軟體元件。

• 安裝 VCSEL I-V 測試軟體
• 探索 LabVIEW 隨附範例
• 建立客製化程式碼模組

產生補償資料

使用 LabVIEW 中的範例 VI 產生補償資料，確保在測試執行期間完成準確的 I-V 量測。

• 什麼是補償資料？
• 執行系統補償
• 執行脈衝補償

執行 I-V 量測

量測 VCSEL DUT 之脈衝電壓 (V) 與脈衝電流 (I)，以便進行 DUT 效能的特性分析。

• 準備進行 I-V 量測
• 執行 I-V 量測
• 比較序列與平行執行之效能

檢視測試結果

使用可從 NI Example Finder 存取的 VCSEL Test Result Viewer 範例專案，探索 I-V 量測測試結果中的任何問題。

• 使用 Test Result Viewer 的時機
• 檢視測試結果

針對常見問題進行疑難排解

針對系統配置、系統操作與測試程式執行中常見問題進行除錯與疑難排解。

• 系統配置問題疑難排解
• 系統操作問題疑難排解
• 測試程式問題疑難排解