電子測試儀器

NI 示波器與數位化儀是精確的模組化儀器，可用於自動化測試與高通道數系統內的電子訊號擷取與分析。示波器提供互動式、即時的視覺化與量測功能，非常適合用於除錯與設計驗證，而數位化儀則能運用完整的使用者可程式化 FPGA 軟體控制功能，提供高速、深度記憶體的資料擷取，以進行進階分析與長時間記錄。

NI 波形產生器能產生標準或任意波形,具有既定形狀、頻率與振幅的電子訊號。這些訊號可以依序產生，也可以即時串流，用於模擬與測試設計、驗證或量產測試中的電子電路。

多功能數位電錶可執行高精確度電壓、電流、電阻、溫度、電感、電容與頻率/週期量測，以及二極體測試。部分多功能數位電錶具備隔離數位化儀模式，可用於擷取與分析波形。多功能數位電錶廣泛應用於從驗證到生產的各種用途。

NI PXI 電源量測單元 (SMU) 為兼具高精確度與高準確度的 DC 儀器，可同時供電並量測電壓與電流。SMU 廣泛用於電子裝置與元件的特性分析與測試作業，必須精確控制與量測電子參數。

NI LCR 錶可量測電子元件的電感 (L)、電容 (C) 與電阻 (R)。LCR 錶會將 AC 訊號套用至受測裝置，並分析響應以判斷這些值。LCR 錶是評估被動式元件及確保其符合設計規格的關鍵。

NI 電源供應器可為受測裝置 (DUT) 提供精確、可程式化的 DC 電壓與電流，確保作業安全且可重複執行。這類裝置支援動態電源供應、序列與軟體定義控制等進階功能。透過靈活的設定整合於自動化測試系統,讓工程師與技術人員能夠模擬實際條件、驗證設計,並確保裝置效能穩定可靠。

電子負載會從受測裝置 (DUT) 汲取電流，以模擬電池、電源供應器、燃料電池、太陽能板與其他電子元件的實際效能。這些可程式化測試儀器可在穩定電流、穩定電壓、穩定電阻與穩定功率等模式下運作,以滿足各種測試需求。電子負載有助於驗證效能並排除電子問題,也是自動化測試系統常見的元件。

NI 數位 I/O 產品可在多個邏輯層級 (包括 TTL、CMOS 與 24 V) 下擷取並產生數位訊號與波形。這些 I/O 產品支援電路特性分析、裝置控制與靈活的自動化作業。NI DIO 可整合 NI 軟體進行測試、量測、工業控制與原型製作，適用於設定、自動化與進階資料分析。

NI 頻率計數器硬體可量測訊號特性,包含頻率、週期、時間間隔、相位等。

NI FlexRIO 儀器結合使用者可程式化的 FPGA 與高效能 I/O,可建立特定用途的儀器。工程師可在軟體中執行客制化數位邏輯、時序與協定處理,在 PXI 或 PCIe 系統中加速驗證、模擬與高通量測試。

切換器是硬體元件，可用來路由儀器與受測裝置 (DUT) 之間的電子訊號。無需手動重新接線就能自動化連線、擴大量測範圍並提高產能，因此對於高效率、可擴充的自動化測試系統至關重要。