類比基本原理對於了解量測系統的運作方式以及如何擷取準確資料至關重要。作為 NI 量測基本原理系列的一部分，這套教學文件介紹了測試與量測應用中常見的核心類比概念，包括類比電路、接地迴路、雜訊、取樣、視窗化處理、隔離，以及適當的連接機制。檢視這些理論說明與實際範例後，您將能更深入了解類比訊號的行為，以及設計與連線選擇如何影響量測準確度與系統效能。
了解分窗與分窗函式的使用方式，盡可能降低頻譜流失造成的影響。另請參考不同的視窗函式，並了解如何在 NI LabVIEW 圖形化開發環境中執行這類函式。
進行類比量測的科學家與工程師往往會使用「雜訊水平」(Noise floor) 一詞，但此概念往往遭到誤解並無法正確處理。透過確實了解雜訊底線、其組成部分，以及如何在量測系統中降低雜訊底線，來減少量測中產生的雜訊。
複習低頻率與 DC 量測的基本概念，包括共模拒斥比 (CMRR)、AC RMS 量測基本原理、電阻量測、電流量測與波峰因數等概念的定義以及詳細說明。