硬體​迴路 (HIL) 測試

HIL 測試 (多​為 XiL 測試​方法) 可​協助​驗證​汽車 ECU 上​的​嵌入式​軟體，​透過​模擬​與​建​模​技術​縮短​測試​時間、​提升​測試​範圍， 特別​是​難以​複製​可靠​測試​案例​的​物理​實驗室/​軌道/​現場​測試。​為了​確保​迅速​更迭 EV 與 ADAS/​主動​安全​系統的​穩定性，​HIL 測試​的​需求​更​勝​以往。​作為​一​測試​方法，​HIL 對​測試​系統​與​車輛​間​的​連結​性、​依賴性​至​關​重要，​因​其​共同​建構​車輛​的​主要​屬性。​NI 的 HIL 解決​方案​具​開放​性​與​靈活性，​可​提供​第三​方​模組、​裝置​整合、​變更​訊號​與 I/​O 清單。​透過 NI，​您​就​能​完全​掌握​測試​系統，​無須​仰賴​測試​廠商​即可​最大​化 HIL 系統​重複​使用​率，​輕鬆​於​常見​測試​架構​進行​驗證​或​檢驗​作業。