​用于RFIC成本PXI生产测试系统

半导体制造商在选择RF生产测试策略时必须平衡复杂性、成本和吞吐量。RF设备需要在更宽的带宽和更高的频率下进行精确、对时间敏感的测量,而利润空间缩小则要求缩短测试时间并提供可扩展的解决方案。

 

应用需求

  • ​​高速、精确的RF测量(EVM、ACP、谐波失真)
  • ​支持大批量生产的可扩展架构
  • ​减少测试时间,同时保持覆盖率和精度
  • ​灵活的系统以适应不断发展的RF标准

NI PXI RF生产测试系统

  • PXIe机箱和控制器可为复杂的多通道RF生产测试系统提供高吞吐量处理和同步。
  • 矢量信号收发仪(VST)结合了RF生成和分析,减少了占用空间,同时支持高达毫米波频率的宽带测量。
  • PXI VNA数字仪器可在单个平台上同步进行S参数、谐波和控制接口测试。
  • 模块化SMUDAQ提供精确的功率控制和同步辅助测量,支持多DUT和系统级验证。

需要扩大生产规模?了解钥匙RF ATE

部署用于RF生产测试的NI半导体测试系统,这是为大批量环境打造的一站式半导体ATE平台。通过RF、混合信号和MEMS设备的多站点测试、机械集成和预验证工作流程,优化吞吐量。

NI解决方案优势

利用NI生态系统,解决方案

NI提供了各种集成解决方案可供选择,满足您特定应用的需求。​您可以将系统集成工作完全交给公司内部的集成团队,也可寻求NI以及遍布全球的NI合作伙伴的帮助,获取完整的系统解决方案。

NI合作伙伴联盟

NI合作伙伴网络是一个由领域专家、应用专家和整体测试开发专家组成的全球社区,与NI紧密合作,全力满足工程界的需求。NI合作伙伴包含了解决方案提供商、系统集成商、顾问、产品开发人员以及服务和销售渠道专家,他们在诸多行业和应用领域都有着丰富的经验,值得您信赖。

服务与支持

在应用的整个生命周期中,NI将与客户携手同行​,随时提供培训、技​术支持、咨询和集成服务以及维护计划。团队可以参与到NI不同地区的用户组,从而获取新技能,也可通过在线培训和面授培训来提高自身的技能水平。

​了解RF生产测试策略

阅读白皮书,比较PXI和ATE方法,查看系统架构,并了解如何优化RF测试以实现成本、可扩展性和性能的提升。